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器件型号：TSM24CA-Q1在数据表中、我们提到过它：
- 最大反向关断电压 (VRWM) 为+24V。
- 最小击穿电压 (I/O 至 GND 和 GND 至 I/O) 为+25.5V ( 仅使用电流 10mA 的测试条件 )。
使用串联 4K 欧姆电阻器时、我们将施加 34V 的外部电压 （测试条件仅为 500uA） 到二极管引脚 1（引脚 2 接地）、并测量多个 PCB 上引脚 1 处的电压。
注意：在周围的安装硬件中、多个 PCB 相似、与实验的二极管并联。
- 在许多 PCB 中、我们观察到对于同一二极管器件/位置、引脚 1 上的电压范围为 30V 至 32V。
- 但在一些 PCB 中、我们观察到在上一步中测试的同一二极管器件/位置的电压为 25.5V、而不是 30V 至 32V。
例如、
-
- 位置 D1 处的 PCB1 二极管显示为 30V、位置 D1 处的 PCB2 二极管显示为 25.5V
- 我们手动更改了 PCB2 位置 D1 与 PCB1 位置 D1 之间的二极管。
- 我们重复了测量
- 我们观察到、如 PCB1 二极管显示的电压为 25.5V、PCB2 二极管显示的电压为 30V
- 它从二极管特性中指示其纯粹发生的情况。
所以、现在要澄清的问题是
- 从二极管功能的角度来看、这种行为是否可以接受？
- 若要在所有二极管器件上进行类似的击穿电压测量 、需要考虑什么测试条件？
