[参考译文] TCAN4550：TCAN 电路导致辐射发射测试失败

尊敬的 Mike：

这些都是很好的问题、我认为我没有可靠的直接答案、因为每个应用都不同、因此您可能需要进行一些实验、看看您是否可以得到任何改进。

如果您可以添加去耦电容器、我认为这只会有所帮助。  晶体振荡器的电流在振荡周期内会发生变化、因此稳定振荡器附近的本地电源 (VIO) 应该有助于减少开关频率下的任何电源变化。  

此外、由于 CAN 位时序根据定义是时钟频率的整数倍、因此 CAN 数据位会产生一些发射。  CANH 和 CANL 之间的任何不对称都会导致共模杂散、通常通过共模扼流圈滤除该杂散。   

如果您的电路板上有端接电阻器、则使用串联 60.4 Ω 电阻器、其之间有一个 4.7nF 电容器连接到 GND、这也有助于滤除共模噪声。

在每个 CANH 和 CANL 布线上向 GND 添加一些电容有助于减慢上升/下降时间、并滤除一些也有助于减少发射的较高频率成分。

对于单端时钟输入、阻尼电阻器可能会有所帮助、但出于降低上升/下降时间并滤除高频成分的相同原因、也可能会有一些电容。  使用单端输入而不是晶体时、时钟电压电平需要满足数字 VIH 和 VIL 电平、但这通常是方波类型的时钟信号、其信号中具有更高的谐波、从而生成方波。  晶体是一种振幅大约为 1Vpp 的纯 40MHz 正弦波、因此其谐波能量可能更少、但不容易实现并需要额外元件。

对于 CMC 建议、我们通常建议使用 100uH 或 51uH 扼流圈、例如 ACT45B-101-2P-TL003 或 ACT45B-510-2P-TL003。  TCAN4550 在不使用扼流圈的情况下并不是为了满足全球 EMC 要求、因此我无法确认在不使用扼流圈的情况下、您是否满足测试中的任何标准。

此致、

Jonathan

感谢您提供的所有见解！ 我将使用我们的实验结果进行更新

不用客气。  

此致、

Jonathan