[参考译文] DS250DF810：DS250DF810 低温误差和 TX FIR 优化指南

尊敬的 Lee：

对延迟深表歉意、感谢您提供系统信息。  我有几个问题：

1.就通道而言、此是双向的、还是仅系统出口（即 BCM -> DS250DF810 -> QSFP28）。  

2. 在低温下测试~8 小时后,您是否开始观察连续的位错误?  还是只需要一个小突发、然后在一段时间内将位错误归零？

3.是否可以在 DS250DF810 上启用 PRBS 校验器？  我们可以使用此信息来确定 BCM -> DS250DF810 或 DS250DF810 ->光学模块之间是否发生位错误。

谢谢、

Drew

1.通道方向性

通道是双向的。 请参阅所附的方框图以了解详细的信号流。 它涵盖出口 (BCM => DS250DF810 => QSFP28) 和入口 (QSFP28 => DS250DF810 => BCM) 路径。

2.错误模式（低温）

在~8 小时的测试后、我们观察到突发错误以分钟级别的间隔发生、而不是连续流。

3. PRBS 和环回设置

是的、可以启用 PRBS 校验器。 要找出问题：

• BCM 侧：我们将在 BCM 芯片上启用环回。

• 重定时器侧：我们将验证从重定时器#2 到重定时器#1 的路径、以检查 QSFP28 和主机之间的段。

• 

尊敬的 Lee：

感谢您的更新、期待您的测试结果。

还有一些想法：

• 您可以比较 DS280DF810 在室温与低温（有错误）下的寄存器转储、以查看是否存在任何差异。
• 您正在使用什么自适应模式？
• 在 DS280DF810（寄存器 0x27、0x28）上观察到什么眼图张开度？  这是否会在低温下受到影响？

谢谢、

Drew

您好、Drew、

感谢您的跟进。 根据您的建议、我检查了寄存器值和调整设置。 结果如下：

• 适应模式： 我们目前正在使用 模式 2。

• 眼图张开度（寄存器 0x27 和 0x28）：  

   -正常 温度： 寄存器 0x27  的范围为 0x10 至 0x13、0x28  的范围为 0x5C 至 0x64。

   -低温： 寄存器 0x27  的范围为 0x10 至 0x12、0x28  的范围为 0x52 至 0x64。

• PRBS 测试 1：重定时器#1 (PRBS EN)-> QSFP（光圈）->重定时器#2（PRBS 校验器）结果：无错误计数。

• PRBS 测试 2：重定时器#2 (PRBS EN)-> BCM ->重定时器#1（PRBS 校验器）结果：测试不可用。(BCM — 不是以太网帧）

您好、Drew、

我还有一个问题。

关于寄存器 0x71-0x73 (DFE tap)、我注意到、即使在适应模式 2/3 下和连续 DFE 适配寄存器集期间、这些值也保持静态。

链路稳定后、这些寄存器是否应该显示无变化？

或者、我是否应该检查另一个寄存器来监控实时 DFE 的变化？