[参考译文] TUSB2E221：eUSB 高速中继器检测质量测试失败、eOP 宽度测试失败

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https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1650545/tusb2e221-eusb-high-speed-repeater-sighal-quality-test-fail-eop-width-test-failed

器件型号： TUSB2E221

尊敬的团队：

我的客户有一个 eUSB 高速中继器发现质量测试失败、您能帮您检查原因吗？

在 USB 2.0 测试期间、端口 2 (Type-C) 和端口 4 (Type-A) 的 EOP 宽度测试失败。（FR：3/3U、1/1 周期）

谢谢：

日志： USB2.0 (002).zip

此致、

Charles

3 个月前

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2928980 points

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您好、

这是 eUSB2 中继器的预期行为、不是合规性故障。

在转换过程中、可能会发生高速数据包起始 (SOP) 同步截断和数据包结束 (EOP) Dribble。 USB-IF 规范通过调整等级预算、将单个 eUSB2 中继器视为相当于一个高速集线器层或两个全速集线器层、从而在标准 USB 2.0 生态系统内实现安全互操作性、从而允许在 eUSB2 中继器中采用这种行为。

此致、

Undrea.

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2928980 points

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尊敬的 Undrea：

那么客户是否应该获得英特尔的豁免？他们得到了这个失败的项目...

谢谢你。

Charles

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2928980 points

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尊敬的 Charles：

没有必要,有一个放弃。在合规性报告中注明 (“已授予豁免“）。

此致、

Undrea.

0 admin 3 个月前

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谢谢 Undrea、让我与客户核实。

0 admin 3 个月前

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尊敬的 Undrea：

请允许我打断一下。我的客户也问过类似的问题、您的回答非常有帮助。您能告诉我哪个 USB-IF 文档显示了该规范吗？

此致
Koyo

0 admin 3 个月前

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您好、

此信息可在 USBIF 的 eUSB2 规范中找到： www.usb.org/.../embedded-usb2-eusb2-physical-layer-supplement-usb-revision-20-specification-rev-12

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