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器件型号： DP83TC813S-Q1
大家好、我正在为使用此 phy 的电路板制作一个测试板、我希望能够测试外部环回、即从端口生成数据包、然后将其环回并验证其是否相同。 这个 phy 似乎主要讨论了内部环回、但我希望使用外部环回来完全测试到连接器的物理链路。 数据表似乎提示在几个地方使用外部环回：
在这里、它指的是“电缆侧“的生成和检查。
这里还讨论了寄存器中的外部环回模式：
我想知道我是否可以使用这种“电缆侧“数据包生成器和校验器、在硬件侧、将以太网端口的 P 和 N 电缆路由到测试仪、并端接 100 欧姆、以便数据有效地路由回同一端口：
