[参考译文] AM26LV32E：测试失败

感谢您解决这个问题。  

此器件在 2023 年因芯片变更而发布了 PCN（链接此处）。 从顶部标识可以看出、这些器件涵盖在此 PCN 更改之前和之后。 根据您的测试、是否存在实际的通信故障？ 从您的报告来看、这似乎只是 ICT 规格的差异。 预计在芯片变化期间会出现电阻差异。 引脚接地电阻不是我们在数据表中所需的规格。 该器件还在总线侧对失效防护偏置进行了一些改进、这正是您看到的。 因此也会出现这种差异。  

这种电阻差异是我们与其他客户因裸片变化而讨论的一个常见主题。 解决方案是调整 ICT 电阻范围、以包括这一最新一代的规格。  

如前所述、这是我们遇到问题的第 3 款器件、在周末我被安排到第 4 个未通过测试的器件、在哪里可以找到与相关器件相关的所有 PCN 的目录

我重点介绍的新器件是 TL032CDR、我们再次使用 PU03762648 直接从 TI 购买了器件、并购买了 2 卷 (x2.5k)、我们再次进行了去硫化、发现新日期代码 2541 和前一个 2240 之间是有效的

我还可以看到、TL032CDR 是一个普通编译版本、并提供了更新的器件 OPA2990

您好、Chris、

查找所有 PCN 的最简单方法是使用 Mouser 或 Digikey 等分销商网站、在该网站上、每个器件的描述中都包含所有 PCN。  

我仅支持 AM26LV32、因此我不是其他器件的专家。 您可以使用说明中的这些器件创建新的 E2E 问题、系统会自动为您的问题分配合适的工程师。

同样、了解“测试失败“的含义会非常有帮助。 如果可能、请详细说明。

此致、

Ethan