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部件号：DS110DF410 “线程： 测试”中讨论的其它部件
您好，
我想问您一些有关 DS110DF410SQ 的问题，如下所示。
我的客户发现温度改变时设备“解锁”的现象。
电路的配置如下。
光纤信号输出：帧器-->通道0 (CDR)输入---通道0 (CDR)输出--> SFP+--> BER 测试仪
光学信号输入：帧器<-- CH1(CDR)输出-- CH1(CDR)输入<-- SFP+<-- BER 测试仪
输出信号路径“帧器--> CH0输入”(0通道输入)发生解锁情况。
如果特定温度变化在“+20度-+17度”左右，则会发生解锁。
(在解锁状态下，BER 测试仪显示为“LOF”。)
在以下情况下，“解锁”状态会自动恢复为“锁定”状态。
1)温度在特定温度范围内变化(低于+17度)
2)通道注册器0x0A[3:2]="11"-->"00"(已执行 Ch0的自适应)
3)取出并放入“SFP+<-- BER 测试仪”路径的接收电缆后，Ch0“未锁定”更改为“锁定”。
4)如果设置为“旁路模式”，则“未锁定”现象并未发生。
问题
Q1)你会对这种现象给我一个评论或建议吗？
Q2)关于“3”的恢复案例，在本例中，Ch0条件(信号输出端)已由 Ch1端(恢复端)条件更改。
你会告诉我你对这种现象根源的看法吗？
问题3)这种现象发生在2台设备上(两台设备的批号都不同)。
你知道这种现象是否取决于“批号”吗？
Q4)我附加了 CDR 寄存器设置文件。
如果有一些错误，您会检查一下吗？
感谢您的支持。
此致，
高统
