[参考译文] TLK1.0232万：低侧测试模式

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https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/600491/tlk10232-low-side-test-patterns

部件号：TLK1.0232万
主题中讨论的其他部件： TLK1.0034万

大家好，

我的客户希望使用内部模式生成器和TLK1.0232万的检查器来测试低侧信号完整性。但它们的FPGA似乎不允许简单回送(回送通道包含8b10b编码器和解码器)。然后，我需要澄清以下几点，建议在低侧使用合适的SI测试方法。

1. LS模式发生器的PRBS信号输出是否也已编码8b10b？
2.是否有任何测试信号可以正确通过8b10b编码器和解码器？

此致，

Takashi Onawa

8 年多前

0 admin 8 年多前

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您好，Takashi：

LS Gen测试模式生成的模式不是8b/10b编码，因此无法通过设备的数据路径进行编码。

此致，
路易斯

0 admin 8 年多前

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你好，Lui-San，

让我再次检查我的第二个问题。

CJPAT和CJPAT的编码方式是8b10b吗？

根据下面的文档，它说明这些模式是XAUI特定的模式，因此我们希望这些模式可以通过8b/10b块而不会出现任何问题。

采用TLK1.0034万和TLK1.0232万的10GBASE-KR链路优化
www.ti.com/.../slla351.pdf

此致，
Takashi Onawa

0 admin 8 年多前

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您好，Takashi-San，

CJPAT模式符合8b/10b编码规则，这就是建议将此模式用于XAUI的原因。

此致，
路易斯

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