[参考译文] TCAN1167-Q1：tPOWER_UP

您好、Hirata-San、

我看到您同时发布了一些相关问题、因此我将在这里全部解决这些问题、并删除其他帖子。  

问题1.  如果这个 CVCCOUT 被改变、tpower_up 有什么变化？

tPOWER_UP 定义了从 Vsup 上升到超出4.5V 到 Vccout 达到其最终值90%之间的延迟。 由于 Vccout 电源的上升时间取决于电源轨的电容、因此我们在给定的输出电容下定义此行为。 如果此输出电容增加、Vccout 电压的上升时间将增加、因此有效 tPOWER_UP 将更大。 此时间增加的数量将取决于包括 Vsup 电压电平和上升时间在内的许多因素。 我们不提供用于计算此类影响的公式、因为该规格基于特定条件下的器件观察结果。 如果客户计划具有明显不同的外部条件、则预期行为的最准确结果是观察实验测试中的上升时间。 如果客户希望执行此类测试、可为 TCAN1167提供评估模块。  

问题2.  在睡眠模式下的 WAKE 引脚上升/下降沿之后、TCAN1167-Q1输出 VCCOUT 需要多长时间？(最小值、典型值、最大值)？

WAKE 引脚上的寄存转换和器件转换至待机模式(INH=HIGH)之间的延迟被 tWAKE 定义为40us。 此时、Vccout 电源也将启用并开始上升。 该电源的上升时间取决于输出电容、但可能需要几毫秒的时间。  

问题3.  SPI 通信是否具有吹扫状态转换的响应时间(最小值、典型值、最大值)？
待机模式→正常模式
正常模式→待机模式
待机模式→睡眠模式

TCAN1167未对该时序进行特性描述。 但是、根据我的经验、它们大约为100us - 200us。  

数据表时序规格是根据器件表征中的观察数据创建的。 如果在该表征期间未进行测试、则无法为该行为指定最小、典型、最大时序。 当我们收到关于表征过程中未包括的某些行为的类似问题时、我们可以根据个人测量或经验提供估算和近似值。 但是、由于这些值不是来自特征数据、因此我们无法保证这些值。  

如果您有任何疑问、请告诉我。

此致、
Eric Schott

您好、Hirata-San、

我能够提前完成此测试。 我发现 Vccout 负载为100uF 时、室温下的有效 tPOWER_UP 时间约为2.0ms。 我已通过电子邮件向您发送了详细的测量数据。 请告诉我这是否足以满足客户的要求。  

此致、
Eric Schott

您好、Hirata-San、

您在这里的想法是正确的、但我认为这里应用 tMODE_SLP_RESET 时间比二进制更好。  

WUP 或 LWU 事件与 INH 置为高电平(tMODE_SLP_RESET)之间的时间最长指定为50us。 这也表示此类唤醒事件与 Vccout 变为有效之间的延迟(INH 上升时间有一定的裕度)。 考虑到测量的电容负载下 Vccout 电源的上升时间、我们可以将这些时间相加、以获得合并延迟的估计值：

10uF 负载：  800us + 50us ~= 850us
100uF 负载：2000us + 50us ~= 2050us

这是客户要寻找的条件吗？ 您是否知道唤醒事件对 Vccout 响应时间有要求？ 或者、这些问题是用于估算系统的预期响应时间？

此致、
Eric Schott

您好、Hirata-San、

我也对这种差异感兴趣。 我使用了相同的 Vsup (12V)、但不包括 CANH 和 CANL 上的总线负载。 这可能是其中一些差异的来源、因为我的设置在 Vccout 电源上没有额外的负载、CAN 收发器也使用了 Vccout 电源。 但是、我认为在 EVM 上进行测试时、设置很可能存在其他差异。 当进行此类测试以进行特性分析时、它是在高端自动测试设备上进行的、这是一个比评估工具更受控的环境。 除此之外、数据表值通常以健康裕度构建、以确保良好覆盖所有运行条件角。  

我认为测量值中出现的变化代表了在应用中容性负载较大时的预期差异。 但是、这些一次性测量非常具体。 数据表值需要保证器件行为、因此最大期望值必须不同。  

此致、
Eric Schott