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[参考译文] TCAN1167-Q1:tPOWER_UP

Guru**** 679710 points
Other Parts Discussed in Thread: TCAN1167-Q1
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1104687/tcan1167-q1-tpower_up

器件型号:TCAN1167-Q1

大家好、团队、

关于 tpower_up、测试条件为 CVCCOUT=10uF。

如果这个 CVCCOUT 被改变、tpower_up 有什么变化?

您是否有用于计算 tpower_up 的公式?

谢谢。

此致、

平田

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    您好、Hirata-San、

    我看到您同时发布了一些相关问题、因此我将在这里全部解决这些问题、并删除其他帖子。  

    问题1.  如果这个 CVCCOUT 被改变、tpower_up 有什么变化?

    tPOWER_UP 定义了从 Vsup 上升到超出4.5V 到 Vccout 达到其最终值90%之间的延迟。 由于 Vccout 电源的上升时间取决于电源轨的电容、因此我们在给定的输出电容下定义此行为。 如果此输出电容增加、Vccout 电压的上升时间将增加、因此有效 tPOWER_UP 将更大。 此时间增加的数量将取决于包括 Vsup 电压电平和上升时间在内的许多因素。 我们不提供用于计算此类影响的公式、因为该规格基于特定条件下的器件观察结果。 如果客户计划具有明显不同的外部条件、则预期行为的最准确结果是观察实验测试中的上升时间。 如果客户希望执行此类测试、可为 TCAN1167提供评估模块。  

    问题2.  在睡眠模式下的 WAKE 引脚上升/下降沿之后、TCAN1167-Q1输出 VCCOUT 需要多长时间?(最小值、典型值、最大值)?

    WAKE 引脚上的寄存转换和器件转换至待机模式(INH=HIGH)之间的延迟被 tWAKE 定义为40us。 此时、Vccout 电源也将启用并开始上升。 该电源的上升时间取决于输出电容、但可能需要几毫秒的时间。  

    问题3.  SPI 通信是否具有吹扫状态转换的响应时间(最小值、典型值、最大值)?
    待机模式→正常模式
    正常模式→待机模式
    待机模式→睡眠模式

    TCAN1167未对该时序进行特性描述。 但是、根据我的经验、它们大约为100us - 200us。  

    数据表时序规格是根据器件表征中的观察数据创建的。 如果在该表征期间未进行测试、则无法为该行为指定最小、典型、最大时序。 当我们收到关于表征过程中未包括的某些行为的类似问题时、我们可以根据个人测量或经验提供估算和近似值。 但是、由于这些值不是来自特征数据、因此我们无法保证这些值。  

    如果您有任何疑问、请告诉我。

    此致、
    Eric Schott

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    您好、Eric - San、

    感谢您的回答。

    让我与我的客户讨论这个答案。

    感谢您的支持。

    此致、

    平田

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    您好、Eric - San、

    我收到了客户的反馈。

    问题1.
    客户正在调查将 CVCCOUT 从10uF 更改为100uF。
    您是否拥有 CVCCOUT = 100uF 时的实际测量数据?
    即使 CVCCOUT 是任何其他值、这也有助于了解此 CVCCOUT 造成的影响。

    问题2.
    您是否拥有 CVCCOUT = 100uF 时的实际测量数据?
    即使 CVCCOUT 是任何其他值、这也有助于了解此 CVCCOUT 造成的影响。(如果您有2个数据用于2个不同的 CVCCOUT、这对客户很有帮助)

    感谢您的支持。
    此致、
    平田

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    您好、Hirata-San、

    我们的特性数据仅包括一个10uF 的数据点。 我们可以进行一些100uF 的基准测量、以粗略估算器件行为、但这不会在整个温度范围内或多个批次内进行。

    客户决策的时间表是什么? 我将能够在下周(5月10日)结束前完成这些测量。 请告诉我此时间线是否有效、或者客户是否愿意在自己的设置下进行此类测量。  

    此致、
    Eric Schott

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    您好、Eric - San、

    感谢您的建议。
    是的、下一周结束对客户没有问题。
    关于 Q1和 Q2、请 在室温下评估1个输出电容= 100uF 的单元。 现在够了。
    非常感谢您的支持。

    此致、
    平田

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    您好、Hirata-San、

    我能够提前完成此测试。 我发现 Vccout 负载为100uF 时、室温下的有效 tPOWER_UP 时间约为2.0ms。 我已通过电子邮件向您发送了详细的测量数据。 请告诉我这是否足以满足客户的要求。  

    此致、
    Eric Schott

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    您好、Eric - San、

    非常感谢您快速获取数据!
    Q1已解决。

    关于 Q2、如何考虑? 您是否需要获取其他数据、或者我们是否应该估计从 Q1的结果开始的时间?
    D/S 中有 take (min)=40us 规范、但这并不意味着从唤醒上升/下降沿到 VCCOUT 90%的时间。
    但是、正如您所说的、状态转换通常需要100-200us。
    因此、我们是否能够按如下方式进行估算?

    10uF 案例:783us +(100至200us)= 883us 至983us
    100uF 案例:2023us +(100至200us)= 2123us 至2223us

    感谢您的支持。

    此致、
    平田

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    您好、Hirata-San、

    您在这里的想法是正确的、但我认为这里应用 tMODE_SLP_RESET 时间比二进制更好。  

    WUP 或 LWU 事件与 INH 置为高电平(tMODE_SLP_RESET)之间的时间最长指定为50us。 这也表示此类唤醒事件与 Vccout 变为有效之间的延迟(INH 上升时间有一定的裕度)。 考虑到测量的电容负载下 Vccout 电源的上升时间、我们可以将这些时间相加、以获得合并延迟的估计值:

    10uF 负载:  800us + 50us ~= 850us
    100uF 负载:2000us + 50us ~= 2050us

    这是客户要寻找的条件吗? 您是否知道唤醒事件对 Vccout 响应时间有要求? 或者、这些问题是用于估算系统的预期响应时间?

    此致、
    Eric Schott

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    您好、Eric - San、

    我明白了。 感谢您的建议。

    是的、这是寻找的客户、根据我的理解、我的客户只想首先估算响应时间。

    感谢您的支持!!

    此致、

    平田

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    您好、Eric - San、

    很抱歉反复询问您。

    客户想知道测量数据(0.783ms)和 tPOWER_UP (=1.8ms)典型规格为何如此不同。

    您知道原因吗?

    测试条件与 D/S 中指定的条件稍有不同?

    您测试的 VSUP 和 RL 分别是什么?

      

    谢谢。

    此致、

    平田

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    您好、Hirata-San、

    我也对这种差异感兴趣。 我使用了相同的 Vsup (12V)、但不包括 CANH 和 CANL 上的总线负载。 这可能是其中一些差异的来源、因为我的设置在 Vccout 电源上没有额外的负载、CAN 收发器也使用了 Vccout 电源。 但是、我认为在 EVM 上进行测试时、设置很可能存在其他差异。 当进行此类测试以进行特性分析时、它是在高端自动测试设备上进行的、这是一个比评估工具更受控的环境。 除此之外、数据表值通常以健康裕度构建、以确保良好覆盖所有运行条件角。  

    我认为测量值中出现的变化代表了在应用中容性负载较大时的预期差异。 但是、这些一次性测量非常具体。 数据表值需要保证器件行为、因此最大期望值必须不同。  

    此致、
    Eric Schott

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    您好、Eric - San、

    感谢您的详细解释。

    我明白了。

    我将用您的答案来结束客户问题。

    感谢您的支持。

    此致、

    平田