Other Parts Discussed in Thread: DS125DF410, DS250DF410
我们一直在使用 SigCon Architect 读取传入信号的眼图、并发现 使用各种方法可视化数据可以提供大量有关信号质量的见解。 使用 SigCon、 我们可以看到眼图选项、如原始数据、错误命中计数和错误命中密度。 在哪里可以找到所有这些方法的算法？
谢谢。
子级
您好！
数据表中列出了生成原始64 x 64 EOM 数据点矩阵的方法。 为了便于参考、我将在下面提供。
眼图张开度监视器能够绘制均衡但非重定时的眼图、以表示进入 CDR 块的信号质量。 此功能对于诊断严重信号完整性错误非常有用。 EOM 生成的眼图不能用于将性能外推至超过1e-7的误码率。
EOM 根据64 x 64矩阵生成眼图。 矩阵中的每个电网空间都包含一个16位字、该字表示传入数据流达到特定相位和电压电平的次数。 EOM 通过记录每个相位和电压组合的总命中计数对传入数据流进行欠采样、每次一个电网空间。
要将 EOM 配置为绘制眼图、有时称为快速眼图捕获、请使用以下寄存器。
|
步骤 |
寄存器[位] |
值 |
说明 |
|
1 |
0x3E[7] |
0 |
禁用锁定 EOM 锁定监控 |
|
2. |
0x2C[6] 0x11[7：6] |
0 2'b xx |
将所需的 EOM 垂直范围设置为2'b xx |
|
3. |
0x11[5] |
0 |
打开 EOM 电源 |
|
4. |
0x24[7] |
1 |
启用快速 EOM |
|
5. |
0x24[0] 0x25 0x26 |
1 |
当24[0] 为1时、开始从64 x 64数组中读出、丢弃前4个字节 |
|
6. |
0x24[0] 0x25 0x26 |
1 |
继续读取信息，直到64 x 64阵列完成。 |
|
7. |
0x3E[7] 0x2C[6] 0x11[5] 0x24[7] |
1 1 1 0 |
将 EOM 返回到其原始状态。 撤消步骤1-4 |
从眼图张开度监视器(EOM)记录的数据从(X、Y)位置(0、0)开始、然后继续到位置(0、63)。 接下来、Y 值复位为0、X 值递增。 重复此过程、直到读取整个64 x 64矩阵。
在将原始数据可视化方面、我们的建议如下。
谢谢、
Rodrigo Natal
Rodrigo、
我可能对着色/命中计数方案的功能有一些误解。
这两个眼图是完全不同的、因此在如何使用(相同的)数据来绘制它们时必须存在一些差异。 您能为我们提供更多见解吗？
您能否指导我们查看您从中提取眼图绘制算法的文档？ 我们无法从 EVM 用户指南、芯片数据表或编程指南中找到相关信息。
谢谢。
子级
