您好!
在下面的帖子中、我告诉您由于 Baten 的影响、USB_DP_DN1的电压升高。
在某些情况下、该脉冲宽度会变宽。
为什么脉冲宽度更宽?

此致
Nishie
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您好!
在下面的帖子中、我告诉您由于 Baten 的影响、USB_DP_DN1的电压升高。
在某些情况下、该脉冲宽度会变宽。
为什么脉冲宽度更宽?

此致
Nishie
您好 Nishie、
是的、Brian 分享了原理图。 对于您的应用、PWRCTL_Baten 上不应有一个用于具有永久连接设备的端口的上拉电阻器。 当集线器已启用电池充电且 USB_VBUS 处于低电平时、DP 和 DM 由集线器下行端口(DCP 模式)短接。 永久连接的器件上电时、将有一个 DP 上拉电阻器、该上拉电阻器将在 DCP 模式下反映在 DM 线路上。 这会导致出现的脉冲。
此致、
JMMN
您好 Nishie、
我能够确认此行为与 TUSB4020B 下行端口中启用的电池充电功能相关。 DP/DM 上的脉冲与 TUSB4020B 上电/退出复位与检测到 USB_VBUS 打开之间的时间有关。 即使 VBUS 在上电时开启、集线器也不会立即检测到它。
我建议通过移除 PWRCTLx 上的上拉电阻器来禁用电池充电 、以防止系统中内部端口上的脉冲。
此致、
JMMN
您好 Nishie、
对于 TUSB4020B、当在下行端口上启用电池充电并且处于 DCP 模式(无上行连接、USB_VBUS 关闭)时、DP/DM 线路上的电压将会出现。 在客户系统中、当 TUSB4020B 上电时、电池充电被启用、并且在被采样和消抖之前、默认情况下 USB_VBUS 被视为关闭。 USB_VBUS 的采样和去抖时间是下行端口上 DP/DM 脉冲的时间。 在此短时间内、下行端口处于 DCP 模式。 计时会因客户系统而异。 要消除脉冲、它们应完全禁用端口上的电池充电。
此致、
JMMN