大家好、团队、
客户 对 LVDS 缓冲有疑问。
"我们需要能够在多点配置中驱动四个100欧姆终端接收器。 端接是内部的、因此不可拆卸、因此会导致25 Ω 端接。 为了能够驱动这个、我在寻找一个与 sn65lvds104的四个输出并行的连接。 TI 的一个应用在第3-7页描述了这个 slld009。 您或您的任何同事是否曾对此进行过调查?"
非常感谢
Josef
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大家好、团队、
客户 对 LVDS 缓冲有疑问。
"我们需要能够在多点配置中驱动四个100欧姆终端接收器。 端接是内部的、因此不可拆卸、因此会导致25 Ω 端接。 为了能够驱动这个、我在寻找一个与 sn65lvds104的四个输出并行的连接。 TI 的一个应用在第3-7页描述了这个 slld009。 您或您的任何同事是否曾对此进行过调查?"
非常感谢
Josef
Josef 您好、
鉴于接收器端接在内部为100欧姆、为了获得最佳的信号完整性并从而实现稳健的设计、这两个选项中的一个是否可以接受:
1)。 使用 DS25CP104或类似器件分别驱动每个100 Ω 接收器。
2)。 使用具有外部端接的 LVDS 接收器。
100欧姆接收器的并联端接问题在于、它会导致回波损耗降低/反射、因此不是一个稳定的设计。 因此,最好考虑上述两种选择。
此致、Nasser
此致、Nasser
您好 Nassar、
感谢您的回答,但我们有几个原因无法浏览您描述的路线:
1)。 我们需要减少进入热处理室的信号数量、因为我们将在结束的几天内同时测试20个器件
每个设备都有四个相同的模块,每个模块都有各自的端接 LVD 接收器。 通过将每个器件的块链接在一起、我们可以将连接数量减少4倍。
2)。 如上所述、每个接收器都有自己的器件端接。
由于老化测试不需要全速功能、因此我们可以将器件的实际速度大幅降低至1MHz 或10MHz。
我假设 TI 没有能够在+125C 下运行的 LVDS 缓冲器、因为消声室将被加热至125°C。
此致、Yves
Yves、您好!
我检查了、并且有多个 LVDS 器件可在125摄氏度的工作温度下工作。 请按照以下链接检查是否有标记为高可靠性的器件:
此致、Nasser