大家好、
请就以下问题向我提供建议。
我使用 DS1100DF410连接到光学模块。
在系统测试期间、DS110DF410报告眼图张开不良、当我参考地址0x27和0x28时、
从而导致器件输出上出现过多误差。
看来,《气候变化和适应气候变化》和《气候变化和脆弱性评估》的适应工作可能没有得到良好的完成。
因此、为了解决此问题、我尝试将 HEO VDO 阈值从默认值0x44调整为0xCC
在地址0x6a 中、同时将地址0x3E 中的位7设置为"1"(默认值也为"1")
但是、尽管地址0x27和0x28中的 HEO VEO 较小、DS110DF410仍然显示锁定。
我怀疑 HEO VEO 阈值可能会被忽略。
问题1. 您能告诉我 DS110DF410是否确实在 VEO 或 HEO 中使 LOCK 失效
低于阈值?
问题2. 使用 HEO VDO 阈值时、您能告诉我正确的程序吗?
问题3. 您可以使用 EVM 证明上述过程吗?
问题4. 剂量 DS110DF410参考 HEO VEO 锁定过程、还是在建立锁定之后?
问题5. HEO 和 VEO 值为 6位、而 HEO VEO 阈值 为4位。
VEO/HEO 和 阈值有何关联?
问题6. 当通过清除地址0x3E 中的位7来禁用 HEO/VEO 锁定监控时、的自动调整
CTEL 和 DFE 是否仍然有效?
Mita