Other Parts Discussed in Thread: ALP
我们将遵循 DSI 启动指南。 对于某些电路板、当使用配置了外部时序的图形发生器时、会出现一些 CRC 错误。 不同电路板的 CRC 误差率不同、从每隔几秒~6个误差到每隔30分钟~6个误差不等。 其中包括一些寄存器转储以供参考。 是否有任何寄存器或配置可以特别调整以提高 CRC 错误率？
注意：在某些电路板上、我们没有遇到任何 CRC 错误。
串行器- DS90UB941、
解串器- DS90UB948
Selva、
您能否验证步骤是否在 DSI 启动流程中？ CRC 问题似乎是 DSI 源配置错误的潜在结果。 如果您可以帮助我了解以下流程图、我们可以交叉检查 LP11转换和 EOTP 生成等常见问题。 此外、在使用外部时序信号发生器时、是否有任何报告的电路板出现 CRC 错误的视觉效果？
最棒的
舒
您好、Shu Huang、
我们是否需要将 patgen 寄存器配置为使用外部时钟内部时序运行？
如果我运行 patgen，而不在 patgen 页中配置水平和垂直分辨率
1)外部时钟和外部时序；2)具有内部时序的外部时钟、我看到 CRC 错误。
如果我使用上述水平和垂直配置配置配置 Patgen 寄存器、并运行1)具有外部时序的外部时钟或2)具有内部时序的外部时钟。
测试这两种模式的正确方法是什么？
谢谢、
Selva
您好、Selva、
在外部时钟和内部时序模式下、需要配置 PATgen 时序寄存器、例如分辨率和极性。 模式测试将采用 patgen 分辨率、不能保留为默认值。
如果您使用 ALP、则 有一个内置的图形发生器选项卡、可帮助您进行配置。
最棒的
舒
