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[参考译文] TUSB211:可靠性问题

Guru**** 2587345 points
Other Parts Discussed in Thread: TUSB211

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/903566/tusb211-reliability-question

器件型号:TUSB211

您好!

你好。 希望这里一切都好。

我们的客户使用 的是 TUSB211。  在其生产测试中、当芯片 VCC、D1P、D1M、D2P、D2M 引脚悬空(VCC 引脚通过去耦电容器连接到 GND 引脚)且 GND 引脚通过11k 电阻器连接到测试系统接地时、将出现初始状态。

在该初始状态之后、将向 D1P+D2P、D1M+D2M 和 GND 引脚轮流施加3V3电压。

他们想知道上述情况是否存在某种影响芯片可靠性的风险?

谢谢、祝您愉快。  


此致、

Cedrick  

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    DP/DM 引脚应该正常、为什么将3.3V 电压施加到 GND 引脚? 进行连接测试?

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    您好 Brian、  

    感谢您的支持。  

    是的,对 TUSB211的 GND 引脚施加电压的原因是为了检查 PCB (TUSB211安装在)接地网(布线+端子)的导通性。

    这是否 会影响芯片的可靠性?  


    此致、

    Cedrick

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    如果您只是形成电压,那么它应该是可以的