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大家好、
NFAULT 行为看起来与数据表说明不同。 请给我建议。
当它们驱动继电器单元时、输出电流为400mA-500mA。 ILIM_ADJ 开路。 NFAULT 上拉至3.3V。
他们期望 NFAULT 在200us 后被驱动为低电平、但它被立即驱动为低电平(大约20us)、并在250us 后返回至高电平。
他们检查了什么?
此致、
平艾-圣、
工程师已收到此主题的通知、并将在 CST 2022年11月3日业务结束时作出响应。
此致、
Eric Hackett
您好、Atsushi、
这是根据设计的、称为快速检测模式、但数据表中未对此进行记录。 由于 ILIM_ADJ 引脚悬空(开路)时会禁用输出禁用和自动恢复功能、因此在短路情况下可能会损坏器件、从而允许大量电流流经器件。
当 ILIM_ADJ 引脚悬空(开路)时、立即检测到电流故障、并且没有消隐时间。 快速检测模式可立即向 MCU 指示可能存在过流情况、如果不是预期的情况、则将 EN 引脚拉至低电平。 这就是为什么在驱动器启用后、NFAULT 引脚被拉至低电平大约20uS、并且电流超过限制阈值。
在此模式下、NFAULT 引脚将直接反映所有可能故障条件(电流、功率和温度)的逻辑或状态。
此致、
Jonathan
乔纳森-圣、
感谢您的回答!
您能否解释一下、尽管输出电流似乎仍然高于 IO (LIM)、但 NFAULT 信号为什么会返回高电平?
阈值是否应具有温度漂移? 我认为输出电流非常接近阈值。 如果阈值 与裸片温度具有正关系、我认为 thredhoud 可能会升高并超过输出电流电平的高输出电流。
此致、
大家好、Atsushia-San、
当 ILIM_ADJ 引脚悬空(Rset 电阻器断开)时、对于给定器件、输出电流限制将介于300mA 和400mA 之间。 由于工艺、电压和温度条件、不同器件的这种情况可能有所不同。
从示波器图中可以看出、平均输出电流最初上升到大约500mA、然后下降到略低于400mA。 对于该特定器件和测试、平均输出电流必须降至电流限制阈值以下、从而使 NFAULT 引脚返回高电平状态。 该阈值在其他器件上可能较低、可能更接近300-350mA、在这种情况下、NFAULT 引脚可能在同一电流负载下不会返回高电平。
此致、
Jonathan
乔纳森-圣、
您能否查看下面的状态图表? 左侧来自数据表。
此致、
您好、Atsushi-San、
对我来说是正确的。
此致、
Jonathan
乔纳森-圣、
谢谢。
我再收到一个问题。
客户测试了带 OUT GND 短路的 NFAULT 行为。 ILIM_ADJ 为开路。
NFAULT 信号会因电流故障而变为低电平、但即使芯片温度高于热警告阈值、也会通过热关断返回至高电平。
是否为预期行为?
此致、
Atsushi-San、
NFAULT 是一个开漏引脚。数据表中指出、在热警告事件期间应将其驱动为低电平。 如果温度未超过关断阈值、NFAULT 将保持低电平。
但是、如果器件温度超过关断温度、则器件将完全关断、但 LDO 除外、它会导致 NFAULT 通过外部上拉电阻器上拉至高电平。 一旦器件温度降至足以重新启用器件的水平、驱动器将打开、并且该过程将自行重复、直到短路消失。
如果在此测试期间调整示波器的刻度、您可能会看到周期每30-50mS 重复一次、但这一次取决于裸片温度在应用中的冷却速度。
这是正常操作。
此致、
Jonathan