[参考译文] SN65HVD72：关于建议运行条件

Tachibana-San、

由于涉及的变量数量、很难对其进行量化。  不过、为了提供一些参考、用于内部逻辑电路的一些低压晶体管最容易受到 VCC 升高的影响、 并且、如果 VCC 在4V 下运行、器件寿命的100%、这些晶体管的组件级 FIT (每十亿工作小时的故障次数)预计会从0.000467 (VCC = 3.6V)增加到0.0394。  (FIT 会随着 VCC 的进一步增加、以该速率继续呈指数级降级。)  随着暴露在高压下的时间百分比降低、FIT 会有所改善：例如、暴露在10%的情况下、FIT 会降低约1000倍。  在1%曝光的情况下、它将减少大约1000000x。

总体器件级 FIT (根据 TI.com)为0.1、这意味着每100亿工作小时发生1次故障。  对于大多数应用而言、这相对较低、因此在大多数情况下、即使是适度的增加也可能导致 FIT 处于给定应用的目标范围内。

如果客户仍然担心较高 VCC 电平的容差、我建议评估 THVD1410。

如果您不熟悉 FIT 术语、请参考：

https://www.ti.com/support-quality/reliability/reliability-terminology.html

此致、
最大

Tachibana-San、

我理解您的困惑、因为您正确地知道同样的问题适用于任何 IC。

本说明有几个原因。  一个是、虽然该器件的设计工作电压为3.3V、但许多其他 RS-485收发器的设计工作电压为 VCC = 5V。 我们希望确保该器件不是为5V 的长期工作电压而设计、 因为我们在这个主题上看到了一些困惑。

另一个原因更多地与变更历史记录相关。  在该版本的数据表之前、发布了之前的版本、该版本将绝对最大 VCC 降至3.6V。 这是因为对该设计的审查确定了 IC 中的一些晶体管(根据我们的内部组件规格)不适用于5V 工作电压。  但是、这种变化对客户来说很困难、因为某些应用可能无法始终很好地控制 VCC、从而将其保持在3.6V 以下。 根据此反馈、我们进行了更深入的分析、发现较高电源电压下的降级实际上并不严重。  基于这一点、我们能够重新修订数据表、将限值增加到5V。 但是、为了不给人一种对更高电压的可靠性完全没有影响的印象、我们添加了脚注 (不会修改超出建议/绝对最大限制标准定义的任何内容、但可能需要更好地关注此问题)。

此致、
最大

尊敬的 Max-San：

感谢您的详细解释。

我了解了添加脚注与修订绝对最大额定值历史之间的关系。
感谢您提供宝贵的信息。

此致、
M. Tachibana