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[参考译文] DP83867E:通道 B、C、D 上的测试信号不可用

Guru**** 2905440 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1180869/dp83867e-test-signals-on-channel-b-c-d-not-available

器件型号:DP83867E

我想在测试模式1中测量所有4个通道的信号。 根据 SNLA239B 附录 B" 1000基本测试模式1"、我尝试将具有 PHY 配置的所有通道的 PHY 设置为测试模式1。

我能够测量通道 A 上的测试信号、但不能测量其他3个通道上的测试信号。 我还将 PHY 配置打印到终端、并读回相关的 PHY 寄存器、结果如下:
测试模式1 (所有通道)

使用以下值设置 PHY:
寄存器0x0000001F 的值:0x00008000
寄存器0x00000000值:0x00000140
寄存器0x00000010的值:0x00005008
寄存器0x00000009的值:0x00003B00
寄存器0x00000025的值:0x00000480
寄存器0x000001D5值:0x0000F508

从 PHY 读取所有相关的配置寄存器:
寄存器0x0000001F 的值:0x00000000
寄存器0x00000000值:0x00000140
寄存器0x00000010的值:0x00005008
寄存器0x00000009的值:0x00003B00
寄存器0x00000025的值:0x00000000 (预期值:0x00000480)
寄存器0x000001D5值:0x00000000 (预期值:0x0000F508)

我想知道、为什么寄存器0x25和0x1D5为0。

我的错在哪里?

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    弗洛里安

    请遵循扩展寄存器读取过程;这可在 DP83867E 数据表的第8.4.2.1节中找到。

    此致、

    Jason Lee

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    尊敬的 Jason:
    谢谢您、这解决了我的问题。

    此致

    弗洛里安

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    弗洛里安

    听得非常好! 我很高兴我们能够提供帮助。 我现在将关闭此主题。

    此致、

    Jason Lee