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器件型号:SN75HVD1176 我们在生产模型中使用了该 IC。
一个器件可在1nsec 内提供良好的上升和下降响应性能。 但不同批次的另一个器件的响应非常差、例如8nsec。e 已经在同一电路中测试了两个不同的芯片。
是否存在不同批次差异的任何问题。
谢谢你。
随附的图像显示了测试条件和结果。 左侧看起来正常、右侧是异常。
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我们在生产模型中使用了该 IC。
一个器件可在1nsec 内提供良好的上升和下降响应性能。 但不同批次的另一个器件的响应非常差、例如8nsec。e 已经在同一电路中测试了两个不同的芯片。
是否存在不同批次差异的任何问题。
谢谢你。
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