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[参考译文] DS90UB935-Q1:静电测试问题

Guru**** 1561515 points
Other Parts Discussed in Thread: TPD1E01B04-Q1
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1270515/ds90ub935-q1-static-electricity-test-issue

器件型号:DS90UB935-Q1
主题中讨论的其他器件:TPD1E01B04-Q1

大家好、

我们现在遇到了静电测试问题、


在静电测试过程中、如果空气或接触电流±4kV 或以上、将导致视频冻结。 测试点是摄像机金属外壳上的任何点。 硬件相关的原理图和 PCB 已经过其他同事确认、也进行了相应的修正、但没有明显改善;在软件方面、E2E 相关的调整后、并没有显著改善。 我稍后会将链接附加到之前的 e2e。

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    Hale、您好!

    您能否提供有关您所做的哪些具体更改不起作用的更多详细信息?  

    • 系统是否已正确屏蔽?
    • 您是否 在 FPD-Link 线路中有 TVS 保护二极管?
    • 如果您在 ESD 测试期间监控电压轨、它们是否超出允许的 VDD 范围?  

    在软件方面、您是否可以尝试将寄存器0x05  PAR_ERR_THOLD_HI 设置为0xFF 并将寄存器0x06 PAR_ERR_THOLD_LO 设置为0xFF?  如果这样不起作用、请禁用 RX_CHAPTITY_CHECK_EN。

    此致、

    信迪

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    Cindy,

    感谢您的支持。

    上一链接是 https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1237654/ds90ub935-q1-the-esd-test-failed?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=ESD#

    原理图将发送到您的电子邮件。 您是否可以 推荐任何 TVS 器件型号? 客户表示电视功能的影响很小、没有什么可以优化的。

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    Hale、您好!

    我们的器件引脚具有内部 ESD 保护功能、因此外部 ESD 二极管是可选的。 需要记住的一些特性是确保 二极管具有低线路电容、良好的 IEC-61000-4-2额定值和低钳位电压。 此外、还应确保 VRWM 电压处于合适的额定值、具体取决于电压是置于 DOUT+引脚上的交流耦合电容器之前还是之后。 一个示例是 TPD1E01B04-Q1。  

    此致、

    信迪

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    Cindy,

    我没有找到相关信息。 能否指出我们可以在哪里找到相关信息、以及我们需要修改寄存器的原因。

    在软件方面,可以尝试将 Reg 0x05  PAR_ERR_THOLD_HI 设置为0xFF 并将 Reg 0x06 PAR_ERR_THOLD_LO 设置为0xFF 吗?  如果不起作用、请禁用 RX_CHAPTITY_CHECK_EN.
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    Hale、您好!

    这些寄存器位于解串器中。 是否正在使用 DS90UB936解串器?  

    默认情况下、DES 中的 AEQ 将检查 FPD3错误、包括奇偶校验错误。 如果检测到足够的错误、AEQ 将重新适应、从而导致器件重新锁定。 这会中断视频流。   如果 ESD 事件导致奇偶校验错误、那么增大奇偶校验错误阈值有助于缓解这种情况。

    另一项硬件检查是确保所有外壳和连接器都正确接地。  建议使用优化空间的外壳、以最大限度地减小空气间隙并确保有多个接地点。

    此致、

    信迪

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    Cindy、您好!

    感谢你的帮助。

    我让客户测试一下 VDD、测试波形如下所示。 上电启动时电压似乎很大。 而且客户实际上找到了另一方来帮助检查包括 TV/ESD 设计在内的原理图设计。 似乎没有问题。 您知道如何减少峰值吗? 有什么建议可以帮助减少峰值?

    关于您修改软件的建议、客户也尝试过、但似乎没有用处。 关于该软件、您是否有任何建议或任何其他寄存器要修改?

    在软件方面,可以尝试将 Reg 0x05  PAR_ERR_THOLD_HI 设置为0xFF 并将 Reg 0x06 PAR_ERR_THOLD_LO 设置为0xFF 吗?  如果不起作用、请禁用 RX_CHAPTITY_CHECK_EN.

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    Hale、您好!

    您测得的电压是否进入 VDD18引脚? 电压是否不符合器件电源引脚规格?  我在阅读您的屏幕截图时遇到困难。  

    仅需确认一下、发生这些 ESD 事件时锁定是否会中断?  

    其它软件建议与您所链接的 E2E 中建议的软件建议相同、您认为这些建议不能解决您的问题。 如果软件优化不起作用、我会仔细检查硬件。 它可能与布局/屏蔽相关。  

    此致、

    信迪

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    Cindy,

    感谢您的支持。 稍后我将通过电子邮件分享原理图和软件。

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    Hale、您好!

    我可以在1-2个工作日内查看原理图和脚本并提供反馈。  

    此致、

    信迪

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    Hale、您好!

    以下是我对935原理图的评论:  

    • 我注意到、引脚25 VDDD 在两个去耦电容器之间放置了铁氧体磁珠。 应将其放置在1.8V 电源之后、以遵循典型应用图。  
    • VDDPLL_CAP 的去耦方案与数据表不同。 确保满足第6.3节"建议运行条件"中的电源引脚规格(直接在引脚上测量)。
    • 铁氧体磁珠应为1k Ω@100MHz、但原理图使用120 Ω@100MHz。 确保满足电源引脚规格。

    如果电源引脚规格在 ESD 测试期间超出允许的 VDD 范围、则可以尝试添加滤波电容器。

    此致、

    信迪

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    谢谢、Cindy。

    您还能否检查 PCB 布局和脚本? 我稍后会发送脚本。

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    很抱歉犯了个错误。

    脚本已发送给您。 我稍后会将 PCB 布局发送给您。

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    Cindy、您好!

    根据您的建议、在 EMC 测试时、显示也卡住和停止、并禁用 RX_CHAPTIFE_CHECK_EN

    如果这不起作用,请禁用 RX_chitate_Checker_EN.
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    Hale、您好!

    我会浏览一下布局、并在1-2个工作日内提供反馈。

    对于脚本、我通过电子邮件进行回复、因为他们提到了 NDA 解串器。 如果您想在 E2E 上提出相关问题、可随时在接口内部论坛上开始新主题、我们可以继续。

    此致、

    信迪

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    Hale、您好!

    我查看了布局、并通过电子邮件向您发送了反馈。  

    此致、

    信迪