你好。 我们正在设计需要1到4个 USB 高速集线器的测试设备。 它的 工作温度可能会超过大多数 TI USB 集线器的推荐条件(最坏情况为95C)。
是否有任何数据表明、当环境温度 上升到 超过其建议的工作条件时、器件如何降低? 为了澄清一点、我们想知道超过这些温度是否会立即破坏 IC。
提到 除了温度范围之外、TUSB4041I-Q1对我们也很有用。 如果有任何部件更适合、我们将不胜感激。
谢谢。
兹比格涅夫-德罗茨德
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你好。 我们正在设计需要1到4个 USB 高速集线器的测试设备。 它的 工作温度可能会超过大多数 TI USB 集线器的推荐条件(最坏情况为95C)。
是否有任何数据表明、当环境温度 上升到 超过其建议的工作条件时、器件如何降低? 为了澄清一点、我们想知道超过这些温度是否会立即破坏 IC。
提到 除了温度范围之外、TUSB4041I-Q1对我们也很有用。 如果有任何部件更适合、我们将不胜感激。
谢谢。
兹比格涅夫-德罗茨德
尊敬的 Zbigniew:
符合 AEC 100测试规范 TUSB4041-Q! 3级器件。
对于3级器件、它通过了125C 温度下的测试、可延长存储寿命。 但由于 数据表中没有提到它、我将再次与系统工程师核实。
-对于合 规性测试,有很多项目 SSTX,针对 USB3的 SSRX 测试以及 USB2合规性,但不确定哪个测试可能会失败。 它可能只是失败的那些电气测试,但可以提出电气测试和功能测试。
此致
布赖恩