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大家好、
当我们在 DP83867CS 电路板上运行10Base-Te 峰值差分电压合规性测试时、
合规性测试结果如下:
如果您对合规性测试结果有任何建议、我们将不胜感激。
<10Base-Te 峰值差分电压结果>
测试板
(1) 1_Board 号
①First 时间:1.55[V]--通过
②second Time:1.56[V]--通过
(2) 2_Board 号
①First Time:1.528[V]--失败
②second Time:1.518[V]--失败
上面的 No.1_Board 和 No.2_Board 仅在 PHY 器件中有所不同。
2.测试程序
根据下面的 e2e 结果、我们使用了使用 PHY BIST (0x16)函数作为测试信号的伪随机信号。
e2e.ti.com/.../dp83867ir-10base-te-100base-tx-1000base-t-compliance-test
作为测试信号、我们使用了由 PHY BIST (0x16)函数生成的伪随机信号。
下面是寄存器设置
0x1F 0x8000、PHY 复位
0x00 0x0100、10Base-T/Te 模式
0x10 0x5008、强制 MDI 模式
0x16 0xd80
请告诉我以下情况。
[问题1]
我们使用 P83867CSRGZ 作为 PHY 元件。
当我查看数据表中10BASE-Te 的 VOD (Vpeak 差分)说明时、
我发现 ERGZ/ISRGZ 的最小/最大值已列出、但 CSRGZ 的最小/最大值未列出。
缺少 CSRGZ 规格是否意味着无法保证10BASE-Te VOD (Vpeak 差分)?
请告诉我、CSRGZ 的最小值和最大值是否有任何规定。
[问题2]
我认为峰值差分电压的输出会因 PHY 器件而异。
是否可以调整10BASE-Te 的差分电压输出?
此致、