[参考译文] ISO1540：新 IC 的行为与旧 IC 不同

您好、Sam、

您能否分享有关您所遇到问题的更多详细信息：

1. 问题是否完全可以重复？ -既然您提到了温度相关的故障,它会发生什么温度的故障? 它是否也会导致室温故障？
2. 问题是在所有新设备上出现、还是在少数设备中随机出现？
3. 您能否分享故障设备的 LTC、以便我们了解制造细节。

此致
Varun

尊敬的 Varun：

 问题 是 100%可重复的。 它在室温下发生故障。 我们使用热风枪加热它,所以我不确定它开始工作的温度。  

对故障的进一步澄清：下游 I2C 总线上有两个器件。

一种是仅侦听 (DAC)、我们可以发送命令、该器件会做出适当响应（DAC 输出按预期变化）。

第二个器件是 ADC。 在轮询时、写入/读取位到达 ADC（使用示波器进行验证）、但返回位不会使其返回到控制器。 ADC 已知良好。 当隔离缓冲器被加热（如上所述）时、ADC 位到达并由控制器读取。  

当移除新的隔离缓冲器并安装旧的隔离缓冲器 IC 时、 控制器会看到 ADC 返回的值。  

在所有带有新标记的设备上都出现此问题（参见下图：标记 — IS1540 32k AFN6G4)。  

稳定工作的旧 IC 如下所示（标记 — IS1540 21T C4TEG4)

您好、Sam、

感谢您的意见。 新器件出现这一问题没有明显的原因、这确实令人非常惊讶。

我们知道、用较新的 IC 替代时会出现通信错误、但遗憾的是、这在调试方面没有太大帮助、也没有根本原因导致问题。 您能否为以下问题提供详细信息、以便我们帮助您调试此问题：

1. 您提到了 100%可重复性、因此订购了多少器件、有多少器件经过了测试、而且在设置中无法正常工作？
   1. 这对于我们了解采样量和故障率非常重要
2. 系统方框图连接、显示了有关 ISO1540 各侧所连接器件和其他元件的详细信息。
   1. 我们还将查看原理图和 PCB 布局、以进行完整性检查。
3. 数据传输方向及其波形：
   1. 您能否确认通信问题发生的方向？  
      1. SIDE1 -> Side2 或 Side2 -> SIDE1、还是两者都有？
   2. 还需要失效方向的波形、以详细了解失效问题。
4. 我还建议您方便使用 ISO1540 EVM、以便在器件本身上进行更轻松的调试实验
   1. 这将帮助我们了解两款器件在性能上的差异

此致
Varun

感谢您的答复。 我需要一些时间才能获得这些信息。 我希望能在下周结束时将其收集起来。

-山姆  

当然、Sam 会等待您的输入。

此致
Varun

由于相关法规、我将无法分享原理图或布局、但这些是在缓冲器 1 侧（3.3V 电平）和 2 侧（5V 电平）测得的波形。  

示波器显示、从器件无法针对 ACK 位将 SDA 线拉至低电平。 ADC 正常工作、并且安装了新的 ADC、以消除对 ADC 功能的疑问。  

2 侧 (+5V)

1 侧 (+3.3V)

我不知道体积、但具有不同制造器/批次标记的所有 IC 都表现出这种行为。 当缓冲器 IC 在原始制造工厂针对旧批号发生改变时、系统会按预期运行（ACK 位被 ADC 拉低、数据写入/读取继续按照设计运行）。  

我会告诉您、设计不使用隔离功能（不是必需的）、因为 1 侧和 2 侧接地都已连接。 1 侧的 VCC 为+3.3V、2 侧的 VCC 为+5V。  缓冲器 ISO1540 IC 距离 ADC 约为 0.4“、并且没有过孔、只是到相应 I2C 引脚的直线布线。  

为了进一步澄清、同一总线上的其他 I2C 从器件（缓冲器的 2 侧）按预期将 SDA 线路拉低（与 ISO1540 数据表的第 7.4 节 P.21 中的功能原理说明相匹配（SLLSEB6F–2012 年 7 月–2022 年 12 月修订）)

两个从 I2C 外设均为开漏外设、而非推挽外设。  

您好、Sam、

感谢您的意见。 我将尝试总结您在下面的最新意见得出的结论：

1. ISO1540 不用作隔离器、而只是用作缓冲器。
2. ISO1540 侧 2 I2C 总线上的一个从器件/外设正常工作。

如果上述两个点正确、我将需要您提供以下详细信息、我已在上面提出过这些信息：

a 系统方框图连接、显示有关 ISO1540 各侧所连接器件和其他组件的详细信息

我们需要查看系统级连接和外设详细信息、因为一个正常、另一个正常。 我们需要了解每一侧的连接方式。  

数据传输方向及其波形：

1. 您能否确认通信问题发生的方向？  
   1. SIDE1 -> Side2 或 Side2 -> SIDE1、还是两者都有？
2. 还需要失效方向的波形、以详细了解失效问题。

[/报价]

您的波形并未阐明上述有关故障方向的问题、由于我尚无法了解您的系统连接、因此我尚无法完全理解波形。

---

两个从器件 I2C 外设均为开漏外设、而非推挽外设。  [/报价]

同样、方框图连接将有助于理解该问题。 请务必在方框图中提及 ISO1540 的侧面。

请注意、这个问题是为了更好地了解您的系统、以便我们进行调试。 我不会直接得出结论、但由于 ISO1540 可与其中一个从设备/外设配合使用、这可能更多地是 ISO1540 与另一个从设备之间的系统兼容性问题。 但我们从系统连接图（而非原理图）开始、通过正确的分析进行确认。

此致
Varun

[/quote]

感谢您的理解。 我会努力为您提供更详尽的详细信息。

谢谢你 Sam。

请随时向我们发布信息。

此致
Varun

立即简单回答： uController 连接了三个 DAC (LTC2635HMSE-HZ10) 和三个 ADC (AD7997BRUZ-1)（具有适当的寻址）。

两个 ADC 和两个 DAC 直接连接到微控制器 I2C 线路。 其余的一个 DAC 和一个 ADC 由 ISO1540 缓冲器分开。

在所有情况下、与微控制器的物理距离都很短、最多不到几英寸。

全部三个 DAC 在被寻址时都正确响应。 两个 具有直接 I2C 连接的 ADC 在被寻址时会正确响应、而由 ISO1540 缓冲器分离的一个 ADC 不会（在 ACK 位期间、SDA 线路为高电平，如上面的屏幕截图所示）。 缓冲器 1 侧和 2 侧的 SDA 线在 ACK 位期间均为高电平。

SCL 和 SDA 线路在缓冲器之前有 2k 上拉至 3.3V 电源轨、在缓冲器之后有 3.3k 上拉电阻（至 5V 电源轨）。 缓冲器的侧 1 位于微控制器侧、缓冲器的侧 2 位于从侧（5V 电源轨侧）。  

1 侧和 2 侧的定义与数据表中相同（即引脚 1-4 为 1 侧、引脚 5-8 为 2 侧）。  

唯一的变化是缓冲区。 旧批号零件工作、新批号零件导致此问题。 当我们拔下新的批号缓冲区并用旧的批号零件替换零件时、问题就会消失。  

您好、Sam、

我现在明白了整个画面。 感谢您提供这些意见、真的很有帮助

我还不确定根本原因、因为设备连接相当复杂、只有 Side2 上的外围设备出现错误行为。 但要消除一个方面、您可以在下面做一个实验、让我们知道结果：

• 移除 SIDE1 上连接的所有 ADC 和 DAC、只允许连接 UC、然后使用 Side2 连接再次运行测试。

请告诉我们这方面的结果。

此外、您能否让我们了解一下 ADC 行为错误、当 ADC (0x20) 尝试与 UC 通信时、或者当 UC 尝试与 ADC (0x20) 和/或两者通信时会发生该问题？

此致
Varun

尊敬的 Varun：

可能是下周（或以后...） 然后可以尝试移除 IC（资源限制和时序）。  

回答您的第二个问题：唯一出乎意料的情况是、当 ADC 通过为 ACK 位拉低 SDA 线来尝试与 UC 通信（SDA 变为高电平、在 UC 释放 SDA 线后立即保持高电平）时。  

谢谢、

Sam

您好、Sam、  

感谢您联系我们。 请继续进行 Varun 的测试。 也要确认地址 0x10 可以从侧 2 通信到侧 1？ 这将有助于找出 ADC 本身的问题。

您好、Andrew、

我可以确认地址 0x10 确实从侧 2 通信到侧 1。 我将继续瓦伦的其他测试,一旦我得到可用的必要资源来做到这一点.  

谢谢、

Sam  

您好、Sam、  

感谢您的更新！ 期待其他测试结果。  

此致、
Aaditya.