您好,
该芯片用作 I2C 隔离、输入侧为 MCU 3.3V IO、输出侧为 CH452 5V。 根据推荐的原理图设计、两侧的信号都有2.2K 的上拉电阻、电源被0.1uF 去耦。
具体的现象是、在芯片持续工作一段时间(2-8天)后、输出侧的 SDA 和 SCL 电平会下降到2V 或0V、并且怀疑内部损坏。 更换器件后一段时间内、故障再次出现。
输出侧是独立的电路板、测试电缆大于6米、通信速率为100K。
请帮助检查问题是什么? 非常感谢~
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该芯片用作 I2C 隔离、输入侧为 MCU 3.3V IO、输出侧为 CH452 5V。 根据推荐的原理图设计、两侧的信号都有2.2K 的上拉电阻、电源被0.1uF 去耦。
具体的现象是、在芯片持续工作一段时间(2-8天)后、输出侧的 SDA 和 SCL 电平会下降到2V 或0V、并且怀疑内部损坏。 更换器件后一段时间内、故障再次出现。
输出侧是独立的电路板、测试电缆大于6米、通信速率为100K。
请帮助检查问题是什么? 非常感谢~
您好、Rhea、
感谢您的联系。 您在该器件上观察到的行为是不可预料的。 根据您所描述 的内容、您的应用中可能存在违反此器件数据表规格的内容。 以下是我对您的应用有哪些疑问:
在您测试过的所有器件中、有多少器件的行为与您描述的一样?
您是否执行了任何其他测试、例如 EMC 或过压?
请提供您的应用原理图、以便我了解您是如何 连接 ISO1540的?
此致、
Kenneth
您好、Rhea、
感谢大家分享原理图。 您共享的原理图中的所有内容看起来都很好、能否共享 MCU 的器件型号以及 显示 MCU 如何连接到器件的原理图?
此外 、以下是我对您的设计提出的一些问题:
1.您能否共享 ISO1540的输入和输出波形、以显示错误输出?
2.测试了多少台设备,以及有多少台设备发生了您描述的故障?
3.当您观察到您描述的故障时,是否执行了任何 EMC 或其他测试?
此致、
Kenneth