[参考译文] ISO7720：减排

您好 Shimizu、

您是否已尝试使用 ISO7720器件进行测试？ iSO7720器件上的噪声插入测试是否也失败？
您能否分享一些其他详细信息、例如原理图和测试结果(波形)？

此致、
Anand Reghunathan

您好 Shimizu、

正如 Anand 提到的、 ISO7420 是较早的一代器件、 ISO7720 是我们最新的数字隔离器系列。

ISO7720更加稳健不会导致问题。  

此致

Tejas

您好 Shimizu、

您能否提供有关故障的更多详细信息？
发生了什么问题？ ISO7720F 是否未通过 IEC-61000-4-5认证？
客户测试的 IEC-61000-4-5级别是什么？ (电压电平)

您还能描述故障的性质吗？ 器件应力后发生了什么问题？ 更高的 ICC 或器件功能？

谢谢。

此致、
Anand Reghunathan

您好 Shimizu、

电路板的 VCC1侧是否进行了冲击、电路板的 VCC2侧是否连接了保护接地？
上图中显示的黄色波形是什么？

ISO7720F 的 VCC 在浪涌冲击期间可能会出现太大的变化、因此器件会关断。 只有当去耦电容器放置得不够靠近器件时、或者衰减器通过过孔连接到器件并且未直接连接到器件时、才会发生这种情况。
如果 ISO7720F 发生这种情况、器件的输出应变为零、这不会同时打开两个 IGBT。 但是、如果在输出引脚上放置了探头来测量此类事件、浪涌能量可能会通过探头耦合、并使两个 IGBT 都导通、从而导致击穿。

我的建议：
1) 1)如果可能、您可以共享电路板的布局和原理图吗？ (只有 ISO 部件和所有分页都足够)。 这一点非常重要、因为我们可以通过查看布局来调试是否存在上述问题。
2) 2)请添加一个焊接在非常靠近器件(如果可能、在器件引脚上)的1uF 去耦电容器
3) 3)在测试期间、是否可以从输入和输出线路上移除探头、因为它们可能会拾取辐射能量并打开两个 IGBT。

尝试执行第2和第3点的测试、如果可能、请尝试并分享布局。
如有必要、我们可以通过电子邮件继续此讨论。
谢谢。

此致、
Anand Reghunathan