[参考译文] ISOW7821：ESD 放电测试耐受性

Stefan、

根据内部测试、ISOW7821应通过8kV ESD 充电/放电测试。 数据表中当前未指定该值。

虽然 EN 61000-4-2 4级是系统级规范、但 ISOW782x 和 ISO784x 都无需外部组件即可通过此测试、因为它们是同一器件、且通道配置不同。 如果需要冗余、可以使用满足隔离爬电和余隙限制的具有低 ESL 和 ESR 的 y 电容器。 该电容器的工作方式是在非常高的频率下有效地将两个接地平面短接。

我希望这对您有所帮助！ 如果您希望获得有关外部组件或优化系统方法的其他建议、请继续！ 欢迎访问 E2E 论坛：)


感谢您发帖、
Manuel Chavez

您好、Manuel、

感谢您的快速回复。 这是一个好消息、尽管 我 建议在未来的数据表修订版本中指定 ESD。

关于您的 y 电容器建议：虽然这出现在设计说明中、但我想知道它是否有助于更糟糕的情况。 假设测试仪连续数次将8kV ESD 脉冲施加到 DUT 的隔离侧(他肯定会这样做！)、那么 y 电容器 将以高达 8kV 的电压阶跃进行充电(假设隔离电阻在 Tera-ohm 范围内的某个位置)。 根据泄漏情况、需要很长时间、直至该电压下降。 此外、触摸充电接口的用户将会受到轻微的电击。

因此、我的想法是通过 GDT (气体放电管)将 ESD 脉冲从隔离式接地挤到非隔离式接地。 这会使隔离栅电容(几 pF)放电、并且不 会显著增加 隔离电容。 另一种方法是通过 TVS 二极管限制跨栅电压、但这会增加泄漏电流和电容。

您对此有何看法？

Stefan、谢谢、致以最诚挚的问候