[参考译文] SN74LV541A-Q1：FIT、失效模式和放大器；分布

尊敬的 Ponnoju：

请给我们的团队~2 周时间、因为我们必须创建此文档。  

Sure Albert、  

请尽快为我们提供帮助。  

此致、

Ponnoju Nagashirisha.

尊敬的 Ponnoju：

明白了、我将努力确定它们的优先级。 我们必须从头开始创建这些文档。  

尊敬的 Albert：

感谢您分享该文件。

我只能看到芯片故障模式我们需要封装故障及其差异、 您能否确认芯片故障模式是否适用于封装故障模式、如果没有、请提供封装故障模式及其差异。

此致、  

PN

尊敬的 Owen：

因此、在这种情况下、芯片失效模式对于芯片和封装失效都是常见的、我们可以考虑所有时基故障率（包括芯片和封装时基故障）。

此致、

PN