[参考译文] SN74LVC2GU04：SN74LVC2GU04

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工具/软件：

亲爱的

我们在同一个软件包中使用了 2 个通道。并使用它来振荡以驱动大于 75mA 的负载。频率为 1MHz。

但请参阅下面的内部结构。如果输出 6 和输出 4 有延迟、输出 6 为高电平、则输出 4 为低电平。

我的意思是内部随机,例如,随机电容器。

则可以是 ns 有较短的时间。如何评估是否存在损坏？

您能否帮助我思考一下我的电路是否会损坏内部？

谢谢你

0 admin 3 个月前

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您好、

器件是否会损坏取决于流经器件的电流。我预计通道之间的延迟差将足够低、以至于通过器件的电流小于最大值、因此不会损坏器件、但 TI 不保证此规格。我建议使用电流表进行实验来测试 ICC 并验证 ICC<ICC 100mA。

0 admin 3 个月前

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您好 Ian、

感谢您的回复、我将按照以下步骤操作；

1.采取 2 或 3 回路;

2.测量每个 SN74LVC2GU04 的 ICC；

3.记录每个 SN74LVC2GU04 的最大电流；

4、使用 osillcope 测量超过 1 小时（设置单次跳闸模式）,最好与电流探头和电压探头配合使用。

是振荡器参数。

如果在 1 小时内没有超过 100mA 的峰值电流。我们可以认为内部没有异常损坏。

我是对的吗？

您还有其他建议吗？

此致

0 admin 3 个月前

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您好、

是的、是这样。

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