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器件型号： SN74LV165A
您好、
我们正在评估在使用 SN74LV165APWRG4 的大规模生产应用中观察到的问题。
在一个生产过程中、某些单元无法正常运行。 执行 A-B-A 交换测试后、更换 SN74LV165APWRG4 器件后、系统正常运行、表示该故障似乎取决于器件。
我已经查看了可用于 SN74LV165APWRG4 的 PCN 函。 但是、我找不到任何指示裸片尺寸更改或内部结构修改的文档。 
请您帮助确认：
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在过去的 PCN 中、SN74LV165APWRG4 是否存在任何裸片尺寸、芯片工艺或封装相关的变化、具体而言是哪些 PCN 引入了这些变化（如果有）。
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这些变化中是否有任何一项可能会影响电气特性、例如时序裕度、传播延迟、电源电流特性或其他器件参数。
感谢您提供支持、以便确定是否存在任何与 PCN 相关的已知变化、这些变化可能与观察到的行为相关。
谢谢、
Conor
