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[参考译文] CD74HC377：CD74HC377，CD74HC4060相关问题

admin
Guru**** 1742690 points
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/588637/cd74hc377-cd74hc377-cd74hc4060-reliabiliy-questions

部件号：CD74HC377

您好，

关于可靠性监控，是什么推动了活动？

只是流程还是设计更改？ JEDEC是否要求这样做？ 零件族评估的频率如何？

我们正在使用的部件：  

CD74HC377PW

CD74HC4060PW

谢谢！

David

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    TI__Guru**** 1742690 points
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    您好，David：

    我已要求我的质量团队查看您的请求，并在我听到任何内容时立即回复您。
  • 0
    TI__Guru**** 1742690 points
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    我得到的答案是'我们遵循JEDEC要求'

    如果您需要进一步的帮助，请告诉我。
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    TI__Guru**** 1742690 points
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    JEDEC要求是否包含一个监控程序，其中在鉴定期间执行的测试在生产运行中重复？ 也许是在设定的频率下，还是按照设计或流程变更的要求？ TI的政策是定期对其产品进行鉴定(如测试)，以确保产品符合经过鉴定测试的产品的质量吗？
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    TI__Guru**** 1742690 points
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    Emrys，

     我们的质量手册是与质量和可靠性相关的所有事项的良好参考。  在每个Product Folder (产品文件夹)页面上都有一个质量标准和实践链接。  如果您单击View (查看)查看任何质量规格，您将转至Quality & Reliability (质量和可靠性)页面，页面左侧是指向各种质量标准和程序的链接。

     对于此特定问题，请单击可靠性测试页面： www.ti.com/lsds/ti/quality/reliability/reliability_testing.page ，您将看到生产的每一个晶片都经过加速寿命测试。  因此，关于这些测试是否受到监控的问题，答案是“是”，并且符合列出的JEDEC标准。  

    您也可以下载质量手册以获取其他信息来源： www.ti.com/lsds/ti/quality/quality_policies_procedures/systemmanual.page 。

    ~Leonard

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    TI__Guru**** 1742690 points
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    谢谢Leonard，

    这很有帮助:D