[参考译文] SN74LVC1G07：三态输出端的泄漏电流

感谢您的快速回答。

我理解您关于 LVC 系列规范的声明。

测量完成后、我们认为实际最大值与数据表中的规格不同。

请询问 TI 内部 Ioff 的预期值。

将对我们非常有帮助。

感谢您的支持。

此致

泄漏电流在很大程度上取决于温度：

数据表限制包含制造差异和安全系数。 如果可以保证较低的值、TI 就已经做到了。

感谢您发送该图。

我们熟悉不同温度下的杆菌。

请告诉我们 y 轴的单位、我怀疑120 ^C 时的值为95A

问题是、您是否可以估算生产过程中的器件74LVC1G07的预期值。

测量实际电流 Ioff 也可能有用。

您可以为我们提供 Ioff 值相对于生产的分布。

感谢您的支持。

此致

您好、Roland、

我将与我们的测试团队联系、看看我们是否有任何数据可供分享。 它们只能提供数据@ TA = 25C、因此我不确定它对您有多大用处。

同样、此数据只能作为补充、TI 无法保证 数据表中规定的任何其他数据。

谢谢！

乍得克罗斯比

您好、Roland、

在800k 的观察过程中以及许多不同批次中、我们发现 Ioff 的平均值约为15至17nA。 我们观察到的最大值为29nA、最小值为0.7nA。 这些观察结果是在25摄氏度下得出的

同样、上述数据只是补充数据、TI 无法保证数据表中规定的任何内容之外的任何内容。

希望这对您有所帮助！ 谢谢、

乍得克罗斯比

尊敬的乍得：

遗憾的是、我们忽略了 Ioff 规格的测试条件。 当 VCC = 0时、给出 Ioff 值。

如果输出晶体管关闭、VCC = 3.3V 且输出上有 VCC、我们需要电流 ID 的值(流入输出晶体管漏极的电流)。

此致