主题中讨论的其他器件:SN74AUP2G07、 SN74AUP2G17
大家好、
我们的数据表显示、器件的上升和下降时间只能小于10ns/v 但 客户的电流测试 结果为53.3ns/V 上升、60ns/V 下降 请您帮助检查此处是否存在风险? 为什么我们 在这里定义10ns/V? 谢谢。
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我们的数据表显示、器件的上升和下降时间只能小于10ns/v 但 客户的电流测试 结果为53.3ns/V 上升、60ns/V 下降 请您帮助检查此处是否存在风险? 为什么我们 在这里定义10ns/V? 谢谢。
如果输入端的边沿过慢、器件可能会损坏。 请参阅 [常见问题解答]慢速或浮点输入如何影响 CMOS 器件?
《了解和解释标准逻辑器件数据表》(文献编号:SZZA036)第4.9.13节规定:
转换率
ΔV 的电压 Δt 率(μ V/μ s)。
压摆率不是在任何特定的时间间隔内测量的、而是在任何点限制输入电压曲线的斜率。 在实践中、重要区域接近开关阈值(其中内部电容和电感可以使阈值发生变化以响应开关电流、从而使观察到的输入信号多次超过阈值)、但无法精确指定该值。
例如、在下图中、它介于1V 和1.5V 之间、其中低转换率会引起振荡: