语言、
我们不将输入阻抗定义为规格。
但是、我们确实测试了输入泄漏。此泄漏电流在辐射前和辐射后(在辐射期间)进行测试。
该泄漏也在使用寿命测试之前和之后(在质量测试期间)进行测试。
为了通过 TID 测试和寿命测试、器件必须在指定的数据表限制内执行。
在25度下执行后期测试

如果这回答了您的问题、请单击"验证答案"
此致、
涉水

0 admin 7 年多前

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您好、Wade、
该输入泄漏电流(符号名称)是什么？指定的数据表限制是什么？我没有在我的数据表中看到它。
您能否分享这种在辐照前后和寿命测试中的典型泄漏电流、以及如何设置该电流进行测试？我想使用这些数据根据施加的电压和电流计算输入直流电阻。

谢谢、
语言

0 admin 7 年多前

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语言、
此数据表中的符号为 II。它被指定为+/- 1uA。

此外、还有一个澄清说明。您已将器件类型指示为 CD54AC00。 SMD DLA 器件是 SN54AC00-SP。
只有 SN54AC00-SP 具有抗辐射加固功能。

辐射报告显示了各种参数在整个暴露过程中的趋势。
请注意、产品文件夹中的链接不正确。
在修复之前、这是100Krad 报告的正确链接。
www.ti.com/.../AC00_50kRadiationReport.pdf

此致、
涉水

0 admin 7 年多前

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感谢您的澄清和数据！报告显示"50kRadiationReport"。应该是100krad？

语言

0 admin 7 年多前

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你是对的。本报告适用于50krad。
此致、
涉水

0 admin 7 年多前

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您是否在温度和电源电压范围内具有逻辑栅极的输入电容？

谢谢、

语言

0 admin 7 年多前

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语言、

我假设您是指 SN54AC00与 CD54AC00。

我能够找到我们的端子电容特性数据。我们不会在温度或电压范围内进行测量、而是仅在标称条件下进行测量。

端子电容测试并不是一个精确的科学、因为相对于接地的设置可能会改变结果。该测试通常将探针尖端从输入引脚连接到接地引脚。如果从输入引脚到安装在电路板上的接地层、这将实现不同的结果。

电容值范围为6.3pF 至9.8pF、在5V 时测得。

此致、

涉水

0 admin 7 年多前

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涉水、
输入电容看起来也会随频率而变化。测量频率是多少？

谢谢、
语言

0 admin 7 年多前

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LCR 表设置为1MHz。
此致、
涉水

逻辑（参考译文帖）

逻辑（参考译文帖）(Read Only)

[参考译文] CD54AC00：栅极的输入阻抗和容差