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[参考译文] SN74LVT8996:在背板上测试6个器件

Guru**** 1655850 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1357030/sn74lvt8996-testing-6-devices-on-backplane

器件型号:SN74LVT8996

我有6个器件位于背板上、想找到一种测试所有连接和寻址的方法。

目前、我使用 LabView 和96个 I/O 卡中的一个进行了矢量测试、但它很难用于调试。

有没有更好的方法来实现这一点。

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    您好、John:

    说实话、我们都不熟悉这个器件。 然而、由于这似乎是一个 JTAG 连接、一个 JTAG 接口将有可能比位拆裂解决方案更容易。

    应用是什么? 是否存在您不能使用常规收发器的原因?

    此致!

    马尔科姆

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    我们是背板的合同 MFG。  我们从2008年开始建造。  但现在是时候从头开始重建测试仪了,我想看看是否有更好的方法。 我对 JTAG 不太熟悉、所以我不知道用什么来测试这样的内容。

    我当时正在寻找一种可能易于设置和编程的方案。

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    是否有可能看到原理图?  本例中的发送器件是 LabVIEW (?) DAQ、接收设备是什么?  

    如果您正在从头开始重建、并且不需要 JTAG/TAP 功能、具体取决于接收端的功能、那么用更通用的收发器完全替换这些器件可能会更容易。 否则、我将不得不对 JTAG 进行更多的研究以确定在这里哪些方法可以起作用。 最终、对于 MSP 团队来说、这个问题可能比我们更好。

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    这是1通道捕捉。  NI IO 设备是96通道数字 I/O (PCI-DIO-96)

    地址在背板上预先布线。  I/O 卡将驱动器件的输入并监控器件的输出。

    测试每个寻址的部分大约需要200个步骤。  所有寻址、旁路和广播功能都通过 NI 卡进行测试。

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    是的、我认为最好的解决方案就是获得一个 PCI JTAG 控制器/边界扫描仪。 我认为这里没有更简单的解决方案。

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    我将研究该选项。 似乎有多抽头版本可以使用。  谢谢。