[参考译文] SN74LVT8996：在背板上测试6个器件

您好、John：

说实话、我们都不熟悉这个器件。 然而、由于这似乎是一个 JTAG 连接、一个 JTAG 接口将有可能比位拆裂解决方案更容易。

应用是什么？ 是否存在您不能使用常规收发器的原因？

此致！

马尔科姆

我们是背板的合同 MFG。  我们从2008年开始建造。  但现在是时候从头开始重建测试仪了,我想看看是否有更好的方法。 我对 JTAG 不太熟悉、所以我不知道用什么来测试这样的内容。

我当时正在寻找一种可能易于设置和编程的方案。

是否有可能看到原理图？  本例中的发送器件是 LabVIEW (？) DAQ、接收设备是什么？  

如果您正在从头开始重建、并且不需要 JTAG/TAP 功能、具体取决于接收端的功能、那么用更通用的收发器完全替换这些器件可能会更容易。 否则、我将不得不对 JTAG 进行更多的研究以确定在这里哪些方法可以起作用。 最终、对于 MSP 团队来说、这个问题可能比我们更好。

这是1通道捕捉。  NI IO 设备是96通道数字 I/O (PCI-DIO-96)

地址在背板上预先布线。  I/O 卡将驱动器件的输入并监控器件的输出。

测试每个寻址的部分大约需要200个步骤。  所有寻址、旁路和广播功能都通过 NI 卡进行测试。