[参考译文] SN74LVC1G123：延迟抖动

我想先说、对于需要高精度的应用、最好使用包含晶体振荡器的计数器或微控制器、而不是 MMV。放置在 Rx 和 CX 上的电阻器和电容器提供的 RC 值可控制输出端的脉冲宽度。 有一个"K"因子、它因器件而异、需要测试的器件也各不相同、具体请参阅以下内容：

(+)[FAQ]如何确定单稳态多谐振荡器的输出脉冲宽度和"K"值？ -逻辑论坛-逻辑- TI E2E 支持论坛

K 确实会随电源电压、温度和外部电容器的大小而变化、在数据表中、我们提供了此 K 值如何随电源电压和电容器大小变化的图。 我们未在数据表中提供任何温度变化图、但以下应用手册显示、当该器件隔离时、您通常会看到输出脉冲宽度在整个温度范围内变化~1%。 当外部电容器也受到温度变化的影响(电容器值在整个温度范围内可变化高达25%)时、该值将发生更大变化、因为此变化将传播到输出脉冲宽度。 请参阅以下 SN74LVC1G123设计人员指南：

使用 SN74LVC1G123单稳多谐振荡器进行设计(修订版 A)

请仔细阅读。   我问的是延迟、而不是脉冲长度。  

请注意、我带下划线的延迟、我明确指 tpd、数据表中将其定义为脉冲延迟。  我没有问脉冲有多长。

或许下面的内容会更清楚。

这是来自数据表第10页的时序图。   请仔细注意输出前沿、在这里、它表示 t_｛PHL｝和 t_｛PLH｝。   和请见脚注"G. tPLH 和 tPHL 与 tpd 一样。"

请注意、我不是在要求学习如何为单稳态多谐振荡器设置脉冲长度。  我想问一下该特定器件的脉冲延迟特性。

好的、谢谢。