工具/软件:
尊敬的团队:
客户想知道当配置为高侧驱动器时、如何实现所有离线检测、例如 BAT/GND/开路负载等
对于 H 桥、它可以通过 四个电流源和四个比较器来实现。 但对于 HSD、它是两个电流源和两个比较器、那么如何进行 OLD /短接至 BAT/GND 检测?
谢谢!
Marc
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尊敬的团队:
客户想知道当配置为高侧驱动器时、如何实现所有离线检测、例如 BAT/GND/开路负载等
对于 H 桥、它可以通过 四个电流源和四个比较器来实现。 但对于 HSD、它是两个电流源和两个比较器、那么如何进行 OLD /短接至 BAT/GND 检测?
谢谢!
Marc
您好:Marc、
感谢您的提问。
Unknown 说:客户想知道当配置为高侧驱动器时、如何实现所有离线检测、例如 BAT/GND/开路负载等
如前所述、单个半桥中有两个电流源和两个比较器。 对于 HS 驱动器、负载从 SHx 连接到 GND。 当连接了负载时、电流源/比较器无法区分接地短路和连接到 GND 的 BDC 或螺线管负载。 如果 SHx 短接至 BAT、则负载将在 VBAT 和 GND 之间用满电位通电。 电气上唯一可行的方法是检测开路负载。
当驱动 HSFET 后负载上发生接地短路时、会导致过流情况、并且通过适当的 VDS 配置、可以使用 OCP 来保护器件-仅当器件处于活动状态时才是如此。 谢谢你。
此致、Murugavel
您好:Marc、
请参阅随附的。 谢谢。
e2e.ti.com/.../DRV87xx_2D00_Q1_5F00_Offline_5F00_OL_5F00_SC_5F00_HB_2D00_rev1.pdf
此致、Murugavel