您好，
我在这里有新消息。 不知道是否 听说过。
在汽车应用程序中，输入drv8.3055万Q二进制八位数。
UVDD 20 V在 数据表中具有准确的应用原理图。 PWM频率15.56 kHz
负载是单个电机绕组。 电流低于15 A时电流信号正常
当我增加PWM脉冲以驱动更多电流时，将在大约超过15安培时发生故障脉冲。
nFault低脉冲有关闭PWM的反应 ，并再次缓慢增加，直到再次发生影响(我相信这可能是OC保护)
现在出现错误：
当我忽略此行为时，如果打开PWM脉冲以获得高于30安培的电流，则驱动器IC将被反应nFault稳定低，AVDD：UV BIT永久性 高，
硬件AVDD为0V，nFault OV通信仍然工作，但驱动程序有故障。 没有可修复的问题。
这种效果是可重复的。 我撞坏了两块板。
Phil，您好！
回来了我的冲浪板。
我试图刺激错误
1)对照+VDD测量到RL负载(15 mOhm 20uH)，从0到15 A无错误。切换频率 16 MHz PWM ca。 98 %。
电流感应信号已调节。 我测量了分流器中的上升电流。 没问题。
2)我根据PGND测量了Sam RL负载。
错误发生得非常快，并向我显示了设备终止的预处理状态。
它以周期的lowwing nFault开始，持续时间为ca。 750us。
原因是安全门将关闭，并在大约1毫秒后，只要再次发生，安全门将再次切换。
这种影响会导致电机发出擦伤噪音。 它在电流约为3..4安培的情况下出现STRTS，并变得更加严重。
此活动会发生什么？
在SPI的datas中，绝对没有显示任何内容，也没有标记所有，状态标志为0。
我用Logig分析器检查了这一点。 我将上传屏幕截图。
有一件事非常奇怪：
我测量了与此行为并行的SP+/SP-电压。
SP+电压是整个时间的正常值，范围约为-30 mV，在关闭t0 -30 mV后向下上升，并缓慢上升至0 V，原因是惯性滑行。 在nFault事件发生之前不久
SP+伏尔特格开始以奇怪的方式逐渐下降到-100mV左右(参见屏幕截图)。 然后发生nFault，安全门将关闭2毫秒，依此类推。
SPI没有任何反应。
这是在大约5A。 在以前的测试中，我忽略了这一点并打开了PWM。 结果是AVDD损坏。
以下是图片：
您会看到她的nFault的SÜP +电压在750 us时变为激活状态。 您可以看到SP+是在大约50 mV时的整个正常时间
发生这种情况时，SP+处的峰值逐渐达到约为-8伏的动态值
在这里您可以看到：
绿色：SP+
黄色：FET Halfbrigde输出
执行：n故障
D1：_CS SPI
D2：CLK SPI
D3：味增SPI
miso：解码数据表SPI REG 0xC...... Rog 0x1
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主要问题是：为什么nFault信号开始工作？ 为什么错误和报告管理完全不能识别这些情况？
温度在大约60°C的范围内
并联电阻器为10 mOhm，电流为5 A时，电压为30...50 mV是相当正常的
并联寄存器或感应寄存器上的程序更改对此中断行为没有任何影响。
您好，
我的建议如下：
如果-8V峰值是由于电感EMF将SP+节点拉低而导致的，这将导致并联放大器损坏。
Phil，您好！
我认为这将 导致我无法再找到问题的答案。
我测试了新修复的主板，发现了同样奇怪的芯片错误。
以下是我可以评论的事实：
1)影响的发生与电流测量无关。 它与SP+/SP-电压无关。 I短路信号。
2)直径在20 V的VDD处被毁，仅到达PGND的RL负载的电流为25 A。
3)损毁的结果是，AVDD在碰撞后为0伏。 故障期间，ALLE电压VREG AVDD和VDD处于正常良好范围
4)皮疹前开始出现周期性异常输出脉动。 之后nFAUKT下降了750我们没有！ SPI数据中的任何通知。
5)在nFAULT期间 ，AVDD始终为0V。
6)当电流超过10 A时，效应开始， 当电流约为20 A时再次令人失望。 (仅在窗口区)
7)通过将HIgside positiv gatecu当前 值降低到较低值，可以将该效应转移到较高的电流区域。 我肯定会通过 增加 正东侧门电流来刺激和稳定误差。
8低侧控制没有影响。
9)负向东侧电流对电流没有影响。
10)我似乎该错误也是 从SPI突发数据包中被同步触发的，持续时间为25毫秒。 (可能是振铃效果)
品红色：n故障
绿色：AVDD
黄色：输出信号
Azur：电流
绿色：SPI Datas
绿色AVDD
品红色nFaULT
Azur 电流
黄色输出脉冲
由于错误，输出很快更改。 请参阅缩放区域
您看到错误的切换行为，可能很快nFAULTt就会变为活动状态。
我想 我会建议我的客户不要使用这款8305进行进一步的应用，只要这种难以描述的奇怪行为没有最终被清除。
问题：
1)驱动器是否能够在48 V下驱动150 A FET？
2)在任何情况下，运行的SPI是否会对门控的操作产生任何可能的影响？
3)有关FET的栅极电荷的限制为太小
4)描述AVDD在nFAULT期间停机的原因
此致
Müller ö ne-Syhre教授
