大家好、
我的客户需要帮助。
DRV8714S-Q1的量产数据表、第8.3.8.12章： www.ti.com/.../drv8714-q1.pdf
说明是
根据我的理解、这意味着外部 MOSFET -> SC 检测、MOSFET ->开路检测、负载-> SC 检测、负载->开路检测、是否正确？
如果我的理解是正确的、我想知道如何根据 VDS_STATUS 寄存器位检测这四种故障？
我认为它应该具有某种组合或其他组合、以帮助进行此诊断。
请帮助。 谢谢。
您好、Morita、
客户回复：
感谢您的回复、我认为这对我的开发项目非常有用。 根据您的介绍、离线诊断应该是被动监控。 当您参与在线诊断以检测有缺陷的 FET 时、我认为应该是主动监控、我也对此感兴趣、例如如何检测 FET、电机+/-之间的内部交叉耦合(您可以看到下图)等、 您是否有此类示例案例可供参考、非常感谢。 
您好、Morita、
客户回复：
在我的项目中、我们使用了两个电机(由两个 H 桥驱动)、下面是两个需要与您确认的诊断。
1.请参阅图电机交叉、电机交叉耦合、您可以发现这是2个不同 H 桥之间的短路。 我的问题是、当 PU_SHX 和 PU_SHY (左)开启且 PD_SHX 和 PD_SHY (右)开启时、VDS_OVER 检测是否会捕获故障、我们能否检查过流电平以查找此类故障？ 
请参阅图 FET 交叉、我们还需要检查同一 H 桥中 FET 与无源 H 桥 FET 之间的意外内部交叉耦合、我们能否按顺序导通 FET、然后 VDS 可以检测到错误、对吗？ 
谢谢。
