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器件型号:DRV8889-Q1 专家、您好!
从寄存器中读取故障(如 UVLO、OCP、OL、STALL、STSD、OTW、UTW)后、MCU 必须通过 CLR_FLT 位清除 FAULT 位、才能使8889报告下一个潜在缺陷?
如果 MCU 未通过 CLR_FLT 位清除 FAULT 位、会发生什么情况? 我知道 FAULT 位将保持高电平。 UVLO、OCP、OL、STALL、STSD、OTW、UTW 的特定位是否也会保持高电平?