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[参考译文] MSP430FR2532:使用 CCS 编译器进行 MSP430FR2532 ESD 测试问题

Guru**** 2419960 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430FR2532

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1543907/msp430fr2532-msp430fr2532-esd-test-with-ccs-compiler-problems

器件型号:MSP430FR2532


工具/软件:

尊敬的 TI:

我们在以下条件下对通信引脚 (SMBus SDA/SCL) 执行了 ESD 测试:0.2kV 、0.05s/ 脉冲、每个周期 40 次。
结果证实、ESD 影响了 MCU。
使用同时使用 IAR 和 CCS 编译的相同代码、
我们发现 CCS 编译的版本__TI_ISR_TRAP在 ESD 冲击后触发、
使程序进入 WDT 并复位 MCU。
相比之下、IAR 编译版本在相同的 ESD 条件下没有出现此问题。

我们想问:
这种现象是否与 CCS 编译器有关?
ESD 是否可能导致程序启用未知或意外中断?
我们定义中断的方式是否不正确?

    
( 从我在.map 文件中看到的结果来看、似乎所有中断都已声明。 )

我们观察到客户的打印机可能会向通信线路 (SDA/SCL) 施加 5V 至 10V 脉冲(约 200ns)、这会导致 Vcc 上出现短暂波动。
这种超短路过压是否会影响 MCU 的运行?
您是否认为有必要对此类瞬变实施额外的硬件保护?

我们期待您的专家意见。 谢谢!!

Eric Shieh

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Eric、

    1. 您注意到的区别可能是 CCS 编译器造成的。 这是我们需要进一步研究的内容。  
    2. 我认为 ESD 不会实现未知或意外的中断
    3. 您的中断似乎已正确定义、但注释与您拥有的内容不完全一致。 我假设它们是个小错别字、但我只是想指出一下、以防万一。
    4. 超短路过压肯定会影响 MCU 的运行。 我建议对您观察到的瞬态实施额外的硬件保护。 这些会导致位错误、错误的启动/停止条件、损坏引脚并导致不可预测的行为。

    Port_1 ISR 是否是应用程序使用的唯一中断处理程序? 否则、请提供您的所有中断处理程序和您打算启用的中断。

    此致、

    Owen

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    我认为没有任何充分的理由直接向 MSP430 引脚施加 ESD 测试电压。 MSP430 和任何 ESD 源之间都应存在保护电路。 只是一个用于限制故障电流的串联电阻。

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    尊敬的 Owen:

    感谢您的答复。

    2.我们还没有确定 ESD 触发的根本原因__TI_ISR_TRAP,所以我们将继续调查这个问题。
    4、感谢您的意见。 我建议我们的 EE 工程师考虑针对这些超短电压瞬变添加保护。

    我们启用的中断包括 WDT、RTC、端口 1、ADC 和 USCI_B0。
    中断处理程序且已启用:
    (1) WDT
      

    (2) RTC


    (3) 端口 1



    (4) ADC


    (5) USCI_B0


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    您好、David:

    是的、这个 ESD 实验是在已经设计好的电池上进行的、并且确实连接了周围电路。
      

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    Eric、

    我乍一看没有发现任何问题、但我也建议查看 这个 E2E 主题。 这可能有助于确定中断的定义方式是否存在任何问题。 浏览用户指南和 msp430fr2532.h 后、我看不到任何会引发问题的地方。

    如您所知、如果未定义中断的处理程序、您通常会发现自己处于陷阱中、因此我必须进一步了解这一点。 此外、感谢您分享代码的屏幕截图。 您能否再做一项检查以确认您没有意外启用任何其他中断? 我还将尝试找到有关 CCS 是否是出现这种情况的原因的答案。

    【编辑】:在某种程度上是否可能未定义任何所需的定义? 这不会导致您没有定义任何 ISR、因此会导致程序以 _TI_ISR_TRAP 结尾。

    此致、

    Owen