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[参考译文] MSP430FR2522:关于射频敏感性(EMC 测试)

Guru**** 2380300 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430FR2522
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/898314/msp430fr2522-about-rf-susceptibility-emc-test

器件型号:MSP430FR2522

您好!

 关于 MSP430FR2522上的射频敏感性(EMC 测试)、我的客户提出了一些问题。

他们已经测试了射频传导噪声测试、但在大约2MHz 的噪声输入下进行了错误检测。

传感器模式为自电容模式、分频器为 f/4。

(问题)

1) 1)根据 CapTIvateTm技术指南中的传导射频噪声测试系统部分,该问题描述如下。

“如果噪声直接以转换频率或其较低谐波(+/- 50kHz)为中心,

测量数据将被正面和负面损坏。”

他们认为分频器发生变化、可以避免2MHz 噪声。 (F/4 -> f/16….f/128)

因为转换频率与噪声频率中心不一致。

他们的理解是正确的?

如果是这样、当转换频率发生变化时、它们应该将哪一点视为整个 CapTIvate 系统?

(对 CapTIvate 系统有任何影响吗?)

 

2) 2)根据 CapTIvateTm技术指南中的 CapTIvateTmMCU 解决方案部分,图98如下所述。

图的右下角和左下角是信号处理后的数据、CapTIvate 信号处理后的数据如所示

信号处理可消除信号中的大部分噪声。


 

 

关于信号处理、

您能解释一下处理更多详细信息吗?

信号处理在 CapTIvate 算法中具有哪些功能?  或者我们需要某种工具吗?

 

 

 

此致、

TAO_2199