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[参考译文] MSP430FR59691:电磁事件期间的温度读数

Guru**** 2378650 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430FR59691
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/965761/msp430fr59691-temperature-readings-during-electromagnetic-events

器件型号:MSP430FR59691

大家好、

我代表我们的客户在下面发布此查询。
我将粘贴客户询问、以确保我将遗漏任何详细信息:

"我们将一根手控设备电缆从 HF 外科手术发生器缠绕到测试装置、该装置在 PCBA 上具有 MSP430FR59691。 测试包括缠绕电缆和射频、以查看我们的设备是否与 HF 外科手术设备相关。

当我们执行此操作时、我们在软件输出日志中看到温度尖峰、当用电线将能量施加到器件上并在电路完成之前产生电晕放电时、我们会看到这种上升。  由于数据没有斜坡、因此它看起来不是实际的温度尖峰。

我们在 MSP430上连接了一个热敏电阻、但我没有看到实际发生任何温度尖峰。 直观地、如果出现温度尖峰、我们会看到温度缓慢下降。 但使用热敏电阻时、温度从未发生变化。

我们想知道为什么来自 HF 外科手术设备的频率或电压值会导致 MSP430上的这种虚假温度读数?

我们使用的 HF 外科手术设备的频率值如下;

根据该信息、它可以很好地了解输出频率的外观。

以下是 HF 外科手术设备的电压和功率列表。



如果您对客户有任何疑问、请告诉我。

谢谢、

Jonathan

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    我怀疑 MSP430芯片内的特性尺寸太小、以至于不能有太多的耦合进入它们。 它似乎更有可能通过电源引脚或外部基准进入。 (如果使用。) 这是否出现在任何其他 ADC 通道中?

    具有高 di/di 的 DUT 周围多次匝的测试设置看起来是一种磁性耦合到 DUT 的好方法、这意味着任何低阻抗环路都可能会受到影响。 由于具有多个 Vcc 和接地引脚、MCU 可能位于多个环路的中心。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    同意 David 的说法。  

    此外、客户是否使用内置温度传感器? 温度传感器是指内部 shareRef 还是外部 Vref? 您在进行测试时是否测量了电源和 Vref? 最好找到保护  电路板上 FR59691的电源和 Vref 的方法。