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器件型号：MSP430FR69721 大家好、
我的客户正在使用 MSP430FR69721IRGCR 、正如您所知、ADC67上有勘误更新。
建议的解决方法是：
权变措施通过在30C 和85C 下对温度传感器进行 ADC 测量以获得所需的基准电压来记录校准数据。 TLV 部分中的校准数据(0x1A1A - 0x1A25)不能被覆盖、但是新的校准数据可被存储在用户 FRAM 或信息存储器中以进行进一步的温度计算。
问题是：一旦我们测量了故障批次的几个器件上的值、它们是否可以应用于故障批次的所有其他器件上？ 或者、他们应该测试这个故障批次的每个器件吗？
这是一个有用的信息、比如说、由于变通办法需要在当前未由我们的应用程序管理的 FRAM 区域中写入数据、因此它需要无法管理的软件更新、因为终端应用已经在现场。
谢谢、此致、
Adrian
