[参考译文] MSP430G2433：闪存内容将在老化测试中被修改

您好、Young、

这非常有趣。 在他们注意到这种损坏之前多长时间、他们是否注意到任何症状(例如代码执行不当)。 此外、他们是否在首次编程器件时验证了器件上的代码？

首先、您能否请客户参阅 《在 MSP430系列微控制器上调试闪存问题 》应用报告。 其中包含最常见的闪存问题的解决方案。 请让他们通读、看看是否可以在那里找到答案。  

同时、我将与我们的质量团队讨论这一问题、并了解我们接下来应该采取的步骤。 如果出现任何新情况、请随时更新。  

此致、  

Caleb Overbay

您好 Caleb、

他们的产品已在实验室进行了4~5天的测试、然后才出现了精灵。 代码经过验证、电路板工作正常。 发生故障后、I2C 通信将停止。 然后、他们读取闪存内容并与好的内容进行比较、并找到修改。

谢谢。

BR、

年轻

您好、Young、

我已经与我们的质量团队交谈过、下面是回应：

• 更改是否可重复、这意味着如果代码是新编程的并且执行了相同的可靠性测试、同一部件是否会再次失败？
• 如果再次失败、是否在相同的位置/地址上失败？
• 器件是否在可靠性测试期间通电？
• 代码是否在可靠性测试期间执行？
• 如果在可靠性测试后多次读取同一单元、结果是否相同(相同单元发生故障)？

从我看到的内容来看、我认为这个问题可以指向中断擦除周期的方向。

很难想象器件将其值从0 (已编程)更改为1 (已擦除)的原因。 这 意味着它们会随着时间的推移在浮动栅极上积累电子。 很难想象电子从哪里来。 我还认为、它不仅影响一个位置(这将与该位置的生产问题有关)。 如果多节电池受到影响、一个解释是、存在一个中断的擦除周期会导致错误的电池电流。 然后、它也会随机出现错误值所在的位置。 他们能否检查一下这种情况是否可能发生？

另一个只需确认的问题：闪存已经完成了多少个编程/擦除周期？ 超过10k？ 这是为了确保不会发生磨损。

此致、  
Caleb Overbay

您好 Caleb、

请按以下方式查找答复。

[引用用户="Caleb Overbay"]

• 更改是否可重复、这意味着如果代码是新编程的并且执行了相同的可靠性测试、同一部件是否会再次失败？

[/报价]

是的。 他们重新编程了此故障器件、并将其产品再次放入老化实验中。 不到24小时后，同一个 fart 又失败了。

[引用用户="Caleb Overbay"]

• 如果再次失败、是否在相同的位置/地址上失败？

[/报价]

第二次发现只有一个位需要修改、与之前的一个地址相同。 交替位从0更改为1。

[引用用户="Caleb Overbay"]

• 器件是否在可靠性测试期间通电？
• 代码是否在可靠性测试期间执行？

[/报价]

是的、器件在测试期间通电、并执行代码。  

[引用用户="Caleb Overbay"]

• 如果在可靠性测试后多次读取同一单元、结果是否相同(相同单元发生故障)？

[/报价]

是的、.txt 文件是相同的。

[引用用户="Caleb Overbay"]

从我看到的内容来看、我认为这个问题可以指向中断擦除周期的方向。

[/报价]

但代码中没有闪存擦除操作或函数。

[引用用户="Caleb Overbay"]
另一个只需确认的问题：闪存已经完成了多少个编程/擦除周期？ 超过10k？ 这是为了确保不会发生磨损。

[/报价]

小于20倍。  

谢谢。

BR、

年轻