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[参考译文] MSP430G2433：闪存内容将在老化测试中被修改

admin
Guru**** 2389930 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430G2433
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/598268/msp430g2433-flash-content-would-be-modified-under-aging-test

器件型号：MSP430G2433

您好、香榭丽舍

我的客户发现 MSP430G2433的一部分内容将在老化测试实验室中进行修改、实验室中的总体积约为75套。 ℃约为50 μ F、 湿度约为75%。 地址位于代码扇区中。 例如、'0xB0'被修改为'0xB8'、并且所有的修改为从0到1。 与客户核实后、他们的项目中没有任何闪存操作代码、电压稳定。

您是否愿意建议问题的来源？ 还有我可以执行的任何测试吗？

谢谢。

BR、

年轻

  • 0
    TI__Guru**** 2389930 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Young、

    这非常有趣。 在他们注意到这种损坏之前多长时间、他们是否注意到任何症状(例如代码执行不当)。 此外、他们是否在首次编程器件时验证了器件上的代码？

    首先、您能否请客户参阅 《在 MSP430系列微控制器上调试闪存问题 》应用报告。 其中包含最常见的闪存问题的解决方案。 请让他们通读、看看是否可以在那里找到答案。  

    同时、我将与我们的质量团队讨论这一问题、并了解我们接下来应该采取的步骤。 如果出现任何新情况、请随时更新。  

    此致、  

    Caleb Overbay

  • 0
    TI__Guru**** 2389930 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Caleb、

    他们的产品已在实验室进行了4~5天的测试、然后才出现了精灵。 代码经过验证、电路板工作正常。 发生故障后、I2C 通信将停止。 然后、他们读取闪存内容并与好的内容进行比较、并找到修改。

    谢谢。

    BR、

    年轻

  • 0
    TI__Guru**** 2389930 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Young、

    我已经与我们的质量团队交谈过、下面是回应：

    • 更改是否可重复、这意味着如果代码是新编程的并且执行了相同的可靠性测试、同一部件是否会再次失败？
    • 如果再次失败、是否在相同的位置/地址上失败？
    • 器件是否在可靠性测试期间通电？
    • 代码是否在可靠性测试期间执行？
    • 如果在可靠性测试后多次读取同一单元、结果是否相同(相同单元发生故障)？

    从我看到的内容来看、我认为这个问题可以指向中断擦除周期的方向。

    很难想象器件将其值从0 (已编程)更改为1 (已擦除)的原因。 这 意味着它们会随着时间的推移在浮动栅极上积累电子。 很难想象电子从哪里来。 我还认为、它不仅影响一个位置(这将与该位置的生产问题有关)。 如果多节电池受到影响、一个解释是、存在一个中断的擦除周期会导致错误的电池电流。 然后、它也会随机出现错误值所在的位置。 他们能否检查一下这种情况是否可能发生？

    另一个只需确认的问题：闪存已经完成了多少个编程/擦除周期？ 超过10k？ 这是为了确保不会发生磨损。

    此致、  
    Caleb Overbay

  • 0
    TI__Guru**** 2389930 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Caleb、

    请按以下方式查找答复。

    [引用用户="Caleb Overbay"]

    • 更改是否可重复、这意味着如果代码是新编程的并且执行了相同的可靠性测试、同一部件是否会再次失败？

    [/报价]

    是的。 他们重新编程了此故障器件、并将其产品再次放入老化实验中。 不到24小时后，同一个 fart 又失败了。

    [引用用户="Caleb Overbay"]

    • 如果再次失败、是否在相同的位置/地址上失败？

    [/报价]

    第二次发现只有一个位需要修改、与之前的一个地址相同。 交替位从0更改为1。

    [引用用户="Caleb Overbay"]

    • 器件是否在可靠性测试期间通电？
    • 代码是否在可靠性测试期间执行？

    [/报价]

    是的、器件在测试期间通电、并执行代码。  

    [引用用户="Caleb Overbay"]

    • 如果在可靠性测试后多次读取同一单元、结果是否相同(相同单元发生故障)？

    [/报价]

    是的、.txt 文件是相同的。

    [引用用户="Caleb Overbay"]

    从我看到的内容来看、我认为这个问题可以指向中断擦除周期的方向。

    [/报价]

    但代码中没有闪存擦除操作或函数。

    [引用用户="Caleb Overbay"]
    另一个只需确认的问题：闪存已经完成了多少个编程/擦除周期？ 超过10k？ 这是为了确保不会发生磨损。

    [/报价]

    小于20倍。  

    谢谢。

    BR、

    年轻

  • 0
    TI__Guru**** 2389930 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    所有、

    参与并行但在此发布我的输入以防止并行线程。

    1.我们是否可以获取 txt 文件进行反汇编并检查是否确实没有访问闪存控制寄存器、是否可能意外执行擦除或程序周期？

    2.设备运行的频率是多少？ 如何通过 DCO 或外部晶振为其计时？
    ->如果通过 DCO 计时、是否使用信息存储器 A 中的校准数据？ 如果是、它们是否有效？

    3、器件在哪个电压下运行？

    4.位于被破坏的地址的位置。 所有值从逻辑零变为逻辑零、看起来它们被并行擦除。
    ->如果最初确保对电池进行了正确编程、这是出现此类症状的唯一方式。

    我之所以要求速度与电压间的关系、是因为可能违反了相关规范、并且器件 在控制范围之外运行、从而产生了一些奇怪的情况。

    此致、
    Dietmar

  • 0
    TI__Guru**** 2389930 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    年轻、

    我只是想检查一下这个。 您是否从客户那里获得了有关 Dietmar 问题的任何反馈？

    此致、
    Caleb Overbay
  • 0
    TI__Guru**** 2389930 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好 Caleb、
    是的、我们已经与 Dietmar 进行了离线讨论、现在我们可以关闭此主题。
    BR、
    年轻
  • 0
    TI__Guru**** 2389930 points
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    您好、Young、

    感谢您的更新。 我将相应地关闭该线程。 您是否找到了根本原因？ 如果您是这样、您能否使用解决方案更新帖子、以便社区能够在遇到类似问题时引用此主题？

    此致、
    Caleb Overbay