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[参考译文] MSP430FR4133:我的 ADC 读数变化是否正常

Guru**** 2589265 points
Other Parts Discussed in Thread: MSP430FR4133

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/649241/msp430fr4133-is-my-adc-reading-variation-normal

器件型号:MSP430FR4133

您好!

我目前正在尝试使用 MSP430FR4133开发霍尔感应 EVM。  此时、我将尝试获得稳定的 ADC 读数、并将其显示在 LCD 显示屏上。  此时、我似乎获得了给定输入值的样本的非高斯分布。  目前、我仅使用电池(当前为1.62V)、其中 RC 滤波器(1k、10nF)会导致通道 A0。  采样保持为256个周期、ADCCLK = MODOSC、时钟被8分频。  当我获取200个样本时、我得到 ADC 读数的以下分布。  您是否希望在使用该特定微控制器的测量中看到这种类型的分布? Bin 值对应于 ADCMEM 值。 我希望我的电压大约为502-503。

如果您怀疑布局有问题。  下面是我的布局的一个片段。 C11是10nF 滤波电容器、C40是微控制器。  当前 LCD 已禁用、未被使用。  到目前为止、其他相邻的 ADC 通道已接地。  不过、在对该问题进行故障排除后、我打算将每个问题用于不同的霍尔传感器。  顶层多边形覆铜是 VCC,底部多边形覆铜是 GND。

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    BTW、对于 ADC 测量、我采集大约100个样本。 对它们进行排序、并计算8个中间样本的平均值。
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    Patrick、zrno、您好!

    DVCC 的总体未调整误差为+/- 2 LSB 作为基准、电源或采样输入引脚上高达+/- 50mV 的变化可能导致记录的分布。 直方图是否已经考虑了样本的平均值? 是否尝试过不同的采样保持时间或时钟配置? 是否可能涉及 ADC39勘误表?

    此致、
    Ryan
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    您好、Ryan、

    感谢您提供相关信息。 直方图是从原始未平均样本生成的。 如果我使用32个以上的样本求平均值、由于样本分布相对相等、该值实际上会收敛到所需的数字附近或在静态电压的两个相邻数字之间闪烁。 但是、我的团队认为这是一个问题、我应该得到高斯分布。 之前、我的采样保持时间更短、并且可以将更快的时钟或时钟频率除以更小的数字。 至于 ADC39勘误表、您是否建议我启用 ADCCTL1寄存器中的 ADCSHP 位? 如果是、我实际上已经完成了。

    下面是我当前设置 ADC 的方法:
    //配置 ADC A0引脚
    SYSCFG2 |= ADCPCTL0;

    //配置 ADC10
    ADCCTL0 |= ADCSHT_8 | ADCON; // ADCON、S&H=16 ADC 时钟
    ADCCTL1 |= ADCSHP | ADCDIV_7; // ADCCLK = MODOSC;采样定时器
    ADCCTL2 |= ADCRES; // 10位转换结果
    ADCMCTL0 |= ADCINCH_0; // A0 ADC 输入选择;Vref=AVCC
    ADCIE |= ADCIE0; //启用 ADC 转换完成中断
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    通过更改采样保持时间或时钟源/分频器、结果是否有所不同? 为什么要除以 MODOSC? 您的 DVCC 电容是多少?

    此致、
    Ryan
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    您好、Ryan、

    结果非常相似、具有不同的采样保持时间和时钟分频。 我们认为、较慢的 MODOSC 会使滤波器电容器有更多的时间从采样引起的任何瞬变中恢复、或者可能是耦合到布线的外部噪声源。 DVCC 电容为1uF (额定电压为16V)。
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    如数据表第5.3节所述、该值应至少为4.7uF。 我们建议使用10uF + 100nF 来实现正确的去耦。

    此致、
    Ryan
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    感谢 Ryan、

    这实际上解决了我的问题。  您可以在下面的发行版中看到。  有一个小偏移、但我认为我应该能够校准它。

    同样、对于犯了我错误的任何其他人、如果您使用错误的旁路电容器连续查看样本、您可能会获得类似于 正弦的读数、如下所示:

    再次感谢 Ryan 的支持!