您好!
我正在使用 MSP430I2031开发一种功率测量和过流(及过压)关断解决方案。
电流测量正常、但问题是测量时间过长、大约需要2秒。
对于过流或过压切断、我们需要在至少200ms 内完成测量。
看一下源代码,数据似乎是在采样次数等于采样率(Hz)*2时测量的。
(在 hal_adc.c 文件中的 SD24_ISR 函数中...)

因此、即使我提高采样频率、该值也始终需要2秒的时间。
是否可以将功耗测量时间缩短到200ms 或更短?
谢谢你
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您好!
我正在使用 MSP430I2031开发一种功率测量和过流(及过压)关断解决方案。
电流测量正常、但问题是测量时间过长、大约需要2秒。
对于过流或过压切断、我们需要在至少200ms 内完成测量。
看一下源代码,数据似乎是在采样次数等于采样率(Hz)*2时测量的。
(在 hal_adc.c 文件中的 SD24_ISR 函数中...)

因此、即使我提高采样频率、该值也始终需要2秒的时间。
是否可以将功耗测量时间缩短到200ms 或更短?
谢谢你
您好、Susan:
在上面的链接中、我看到了以下陈述:

应用代码初始化系统和库、然后启动通信和测量过程。 前台进程大约每秒重复一次(如果未检测到电压通道上的过零情况、则重复两秒钟)。 后台进程取决于 ADC 采样率、并根据活动 ADC 通道的数量重复。
目前、采样计数设置为采样率的两倍。

(在 hal_adc.c 文件中的 SD24_ISR 函数中...)
如果我将其更改为以下项、我可以读出测量值、以100ms 为单位。

此变更是否会产生任何问题?
如果您降低此值、则可以充分缩短测量时间。 我想获得一个有关它可以使用的低度的提示。
谢谢你
您好!
看起来您更改了前台进程的速度。 我担心的是前台进程比后台进程短并且漏掉了采样。 在这种情况下、这取决于后台进程的速度(取决于 ADC 采样率+ ADC 通道数)以及数据传输速率(根据 通信协议规范、每字节约~1ms)。 理论上、这就是如何计算最短测量时间。
谢谢!
苏珊
您好!
我更改了 SD24_ISR 例程。

在"检查电能并生成脉冲(每相)"后、当"采样计数"是"采样频率"的两倍时、SD24_ISR 的例程会立即设置"设置数据就绪标志"、而不是"设置数据就绪标志"。
这就是它每两秒发送一次测量数据的原因。
我的理解是否正确?
这只是设置一个2秒周期、因为发送 UART 数据过于频繁地需要大量负载?
如果我理解的是正确的、我认为可以立即将"设置数据就绪"设置为"、而不在"检查电能并生成脉冲"之后选中"采样计数"。
是这样吗? 我能说后台处理器测量的值是在它可用时测得的值吗?
当然、如您所说、您排除了传输时间在外部的问题。
仅供参考、我们使用 I2C 从器件而不是 UART 进行开发。
在"设置数据就绪"后、它存储在单独的变量中、并在 I2C 主设备发出请求时传送数据。
谢谢你