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您好、专家!
关于 ADC 采集、我有以下问题:
Q1:信号曲线在图1中标记区域的原因是什么? 即使没有连接传感器也会发生这种情况(图2)
Q2: ADC 捕获是否显示传感器电压信号的直接转换、还是显示了交叉相关结果?
另外、我想知道 dTof 和 absTof 的计算是否相互独立。 我已经审阅了大量有关计算过程的文档。 如果我理解正确、absTof 和 dTof 计算基于不同的原理。 虽然 absToF 是结合希尔伯特变换通过阈值计算得出的、但 dToF 是通过交叉相关计算得出的。 那么、如果我以高标准偏差测量 absToF、这也会影响 dToF 的标准偏差还是它们是独立的?
此致、
康斯坦丁
尊敬的 Konstantin:
我认为该赝像是由激发换能器的仿真脉冲导致的。 您的 ADC 延迟设置为什么?
您的脉冲捕获看起来非常干净。 通常情况下、忽略捕获的初始部分(通过增加延迟)来消除任何伪影都没有问题。
我必须思考您的第二个问题。
此致、
Evan
您好、Evan:
我特意选择了太短的延迟来显示该赝像。 谢谢您提供此提示。 所以您的意思是伪差是由换能器激发产生的方波脉冲引起的,与换能器信号本身没有任何关系?
当我增加脉冲数时、伪影向右移动、因此它会"稍后"出现。 这是因为生成脉冲所需的时间较长吗?
此致、
康斯坦丁
尊敬的 Konstantin:
很抱歉、我落后了、我将在周一回复。
Evan
当我增加脉冲数时,工件会向右移动,因此显示为"稍后"。 这是因为生成脉冲所需的时间较长吗? [/报价]是的、这对我来说似乎是正确的、初始(激励)脉冲序列中的脉冲越多、总时间就越长。
关于您的另一个问题:
[quote userid="558428" url="~/support/microcontrollers/msp-low-power-microcontrollers-group/msp430/f/msp-low-power-microcontroller-forum/1227584/evm430-fr6043-adc-capture-and-dtof-calculation 这样、如果我测量了具有高标准偏差的 absToF、这也会影响 dToF 的标准偏差吗?它们是独立的吗? [/报价]由于两次测量都依赖于相同的数据、因此我认为较高的信噪比会改善两次测量的标准偏差。
此致、
Evan
Unknown 说:Q2: ADC 捕获是否显示传感器电压信号的直接转换、还是交叉相关结果? [/报价]谢谢您的回答,您能提供更多有关这方面的信息吗?
此致、
康斯坦丁
是的、ADC 捕获显示 ADC 代码、没有预处理。
此致、
Evan